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半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算放大器檢驗(yàn)測(cè)試機(jī)構(gòu)

檢測(cè)報(bào)告圖片模板

檢測(cè)報(bào)告圖片

半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算放大器檢測(cè)檢驗(yàn)?zāi)男╉?xiàng)目?檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)是什么?我們嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)估,確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。同時(shí),我們還根據(jù)客戶的需求,提供個(gè)性化的檢測(cè)方案和報(bào)告,幫助廠家更好地了解產(chǎn)品質(zhì)量和性能。

檢測(cè)項(xiàng)目(參考):

輸入失調(diào)電壓、輸入失調(diào)電流、輸入偏置電流、電源電流、開環(huán)電壓增益、共模抑制比、電源電壓抑制比、輸出峰-峰值電壓、短路輸出電流、開環(huán)電壓放大倍數(shù)、電壓轉(zhuǎn)換速率(壓擺率)、輸出電壓范圍、共模抑制比KCMR、開環(huán)電壓增益AVD、較大輸出電壓VOPP、較大輸出電流IOM、電源電壓抑制比 KSVR、輸入偏置電流IIb、輸入失調(diào)電壓VIO、輸入失調(diào)電流IIO、靜態(tài)功耗PD、共模抑制比KCMR、電源電壓抑制比KSVR、輸入偏置電流IIB、輸出峰峰電壓Vopp、靜態(tài)電源電流、差分放大器輸出電壓范圍、輸出電壓較大變化率、電源電壓抑制比KSVR、共模抑制比(KCMR)、開環(huán)電壓放大倍數(shù)(AVO)、電源電壓抑制比(KSVR)、電源電流(ICC)、輸入偏置電流(IIB)、輸入失調(diào)電壓(VIO)、輸入失調(diào)電流(IIO)、輸出電壓范圍(VO)、輸出峰峰電壓、大信號(hào)電壓增益、電壓轉(zhuǎn)換率、輸出電壓幅度、共模抑制比CMRR、開環(huán)電壓增益AVD、電壓增益Avo、電壓轉(zhuǎn)換速率(壓擺率)SR、電源電壓抑制比PSRR、輸入偏置電流IIB、輸入失調(diào)電壓VIO、輸入失調(diào)電壓VOS、輸入失調(diào)電流IIO、輸入失調(diào)電流IOS、輸出峰-峰值電壓Vopp、輸出電壓幅度Vopp、輸出電壓轉(zhuǎn)換速率(壓擺率)SR、靜態(tài)功耗PW、靜態(tài)電源電流IS、驅(qū)動(dòng)低電平、驅(qū)動(dòng)高電平、增益帶寬積、輸出電壓轉(zhuǎn)換速率、輸出短路電流、靜態(tài)功耗、共摸抑制比、功耗、電壓放大倍數(shù)、共模抑制比KCMR、開環(huán)電壓增益AVD、電源電壓抑制比KSVR、輸入偏置電流IIB、輸入失調(diào)電壓VIO、輸入失調(diào)電流IIO、輸出峰-峰電壓VOPP、輸出電壓范圍(V、輸入失調(diào)電流(I、電源電壓抑制比(K、開環(huán)電壓放大倍數(shù)(A、輸入偏置電流(I、輸入失調(diào)電壓(V、電源電流(I、共模抑制比(K、輸入失調(diào)電壓(VIO)、輸入失調(diào)電流(IIO)、輸入偏置電流(IIB)、開環(huán)電壓放大倍數(shù)(AVO)、共模抑制比(KCMR)、電源電壓抑制比(KSVR)、輸出電壓范圍(VO)、電源電流(ICC)、壽命試驗(yàn)、輸出峰-峰值電壓VOPP

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)一覽:

1、GJB 548B-2005 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》 GJB 548B-2005

2、SJ/T10738-1996 半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算(電壓)放大器測(cè)試方法的基本原理 條款2.8

3、GB/T 17940-2000 半導(dǎo)體器件 集成電路第3部分:模擬集成電路 GB/T 17940-2000

4、GB/T 17940-2000 《半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路》 /第III篇第2節(jié)、第IV篇第2節(jié)

5、GB 9425-1988 半導(dǎo)體集成電路 運(yùn)算放大器空白詳細(xì)規(guī)范 GB 9425-1988

6、SJ/T 10738-1996 半導(dǎo)體集成電路 運(yùn)算(電壓)放大器測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10738-1996

7、SJ/T10738-1996/ 半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算(電壓)放大器測(cè)試方法的基本原理 2.8

8、GB/T17940-2000 半導(dǎo)體器件 集成電路第3部分:模擬集成電路 第IV篇/第2節(jié)/5

9、GB 9425-1988 半導(dǎo)體集成電路 運(yùn)算放大器空白詳細(xì)規(guī)范 5.2.5

10、QJ 2491-93 半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算放大器測(cè)試方法 5.11

檢測(cè)報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高??蒲械?。

檢測(cè)周期

一般3-10個(gè)工作日(特殊樣品除外),具體請(qǐng)咨詢客服。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。常規(guī)來說只要測(cè)試沒更新,測(cè)試不變檢測(cè)報(bào)告一直有效。如果是用于過電商平臺(tái),還要看平臺(tái)或買家的要求。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

因測(cè)試項(xiàng)目及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同,具體請(qǐng)聯(lián)系客服確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó),檢測(cè)領(lǐng)域包括食品、環(huán)境、建材、電子、化工、汽車、家居、紡織品、農(nóng)產(chǎn)品等,具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。

溫馨提示:以上內(nèi)容為部分列舉,僅供參考使用,更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。

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