檢測報告圖片
第三方檢測報告有效期
一般檢測報告上會標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標(biāo)注有效期。
硅片表面檢測報告如何辦理?檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?檢測報告辦理是擁有國內(nèi)外一線的檢測儀器設(shè)備，能夠?qū)杵谋砻尜|(zhì)量進(jìn)行表面電阻、平整度、彎曲度等項(xiàng)目的檢測。
檢測項(xiàng)目：
表面電阻、平整度、彎曲度、翹曲度、平面度等。
適用范圍
單晶硅片、多晶硅片、非晶硅片、芯片用硅片、光伏板用硅片等。
相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6616-2009半導(dǎo)體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測試方法 非接觸渦流法
GB/T 6617-2009硅片電阻率測試 擴(kuò)展電阻探針法
GB/T 6618-2009硅片厚度和總厚度變化測試方法
GB/T 6619-2009硅片彎曲度測試方法
GB/T 6620-2009硅片翹曲度非接觸式測試方法
GB/T 6621-2009硅片表面平整度測試方法
GB/T 11073-2007硅片徑向電阻率變化的測量方法
GB/T 12965-2018硅單晶切割片和研磨片
GB/T 13388-2009硅片參考面結(jié)晶學(xué)取向X射線測試方法
GB/T 14140-2009硅片直徑測量方法
檢測流程步驟
溫馨提示：以上關(guān)于《硅片表面檢測報告》內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。
