檢測(cè)報(bào)告圖片
第三方檢測(cè)報(bào)告有效期
一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
鍵合絲檢測(cè)哪里可以做?檢測(cè)項(xiàng)目有哪些?檢測(cè)報(bào)告辦理檢測(cè)中心擁有多年的鍵合絲檢測(cè)的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，可根據(jù)客戶(hù)的檢測(cè)要求制定科學(xué)的測(cè)試方法，并提供嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y(cè)試報(bào)告，幫助客戶(hù)了解產(chǎn)品的技術(shù)參數(shù)。
檢測(cè)項(xiàng)目：
表面質(zhì)量檢測(cè)、電導(dǎo)率檢測(cè)、公稱(chēng)直徑檢測(cè)、抗拉強(qiáng)度檢測(cè)、放絲性能檢測(cè)、拉斷力檢測(cè)、伸長(zhǎng)率檢測(cè)、主成分含量檢測(cè)、雜質(zhì)元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)檢測(cè)、重量偏差檢測(cè)等。
適用范圍
鍵合銅絲、鍵合金絲、鍵合銀絲等。
相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
SJ/T 10705-1996 半導(dǎo)體器件鍵合絲表面質(zhì)量檢驗(yàn)方法
GB/T 4937.22-2018 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第22部分：鍵合強(qiáng)度
GB/T 28277-2012 硅基MEMS制造技術(shù).微鍵合區(qū)剪切和拉壓強(qiáng)度檢測(cè)方法
GB/T 8646-1998 半導(dǎo)體鍵合鋁-1%硅細(xì)絲
DIN EN 62047-25-2017 半導(dǎo)體器件. 微型機(jī)電裝置. 第25部分: 硅基MEMS制造技術(shù). 微鍵合區(qū)拉壓和剪切強(qiáng)度的測(cè)量方法
YS/T 1105-2016 半導(dǎo)體封裝用鍵合銀絲
NF C96-050-9-2012 半導(dǎo)體器件 - 微型機(jī)電裝置 - 第9部分: 微機(jī)電系統(tǒng)硅片的硅片鍵合強(qiáng)度測(cè)試.
IEC 62047-9 CORR 1-2012 半導(dǎo)體器件.微型機(jī)電器件.第9部分:微機(jī)電系統(tǒng)硅片的硅片鍵合強(qiáng)度測(cè)試
相關(guān)介紹
鍵合絲是半導(dǎo)體器件和集成電路組裝時(shí)，為使芯片內(nèi)電路的輸入/輸出連接點(diǎn)與引線框架的內(nèi)接觸點(diǎn)之間實(shí)現(xiàn)電氣連接的內(nèi)引線。鍵合絲作為鍵合內(nèi)引線，應(yīng)具有電導(dǎo)率高，導(dǎo)電能力強(qiáng)，與導(dǎo)體材料的結(jié)合力強(qiáng)，化學(xué)性能穩(wěn)定等性能優(yōu)點(diǎn)。
檢測(cè)流程步驟
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