檢測報告圖片

第三方檢測報告有效期

一般檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。

間歇壽命試驗檢測項目及標準有哪些?檢測實驗室可根據(jù)DB61/T 1448-2021 大功率半導體分立器件間歇壽命試驗規(guī)程等相關標準制定試驗方案。對樣品檢測的間歇壽命試驗等項目進行檢測分析。并出具嚴謹公正的按鈕壽命試驗報告。

檢測項目

間歇壽命試驗等。

適用范圍

PCB、電容、電阻、電感器件、電聲器件、磁材料及器件、電接插元件等。

相關檢測標準

DB61/T 1448-2021 大功率半導體分立器件間歇壽命試驗規(guī)程

GB/T 15651.4-2017 半導體器件 分立器件 第5-4部分:光電子器件 半導體激光器

GB/T 29332-2012 半導體器件 分立器件 第9部分：絕緣柵雙*晶體管

GB/T 21039.1-2007 半導體器件 分立器件 第4-1部分:微波二*管和晶體管 微波場效應晶體管空白詳細規(guī)范

GB/T 20516-2006 半導體器件 分立器件 第4部分:微波器件

GB/T 4589.1-2006 半導體器件 第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范

GB/T 13150-2005 半導體器件 分立器件 電流大于 100A、環(huán)境和管殼額定的雙向三*晶閘管空白詳細規(guī)范

GB/T 13151-2005 半導體器件 分立器件 第6部分;晶閘管 第三篇 電流大于100A、環(huán)境和管殼額定的反向阻斷三*晶閘管空白詳細規(guī)范

GB/T 15651.2-2003 半導體分立器件和集成電路 第5-2部分;光電子器件基本額定值和特性

GB/T 15651.3-2003 半導體分立器件和集成電路第5-3部分;光電子器件測試方法

GB/T 6589-2002 半導體器件 分立器件 第3-2部分;信號和調(diào)整二*管電壓調(diào)整二*管和電壓基準二*管空白詳細規(guī)范

GJB 128A-97 半導體分立器件試驗方法

檢測流程步驟

溫馨提示：以上關于《間歇壽命試驗測試報告》內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。