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印制電路及電子元器件檢測檢驗(yàn)報(bào)告

檢測報(bào)告圖片

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第三方檢測報(bào)告有效期

一般檢測報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

印制電路及電子元器件第三方檢測報(bào)告如何辦理?檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)方法是什么?實(shí)驗(yàn)室可依據(jù)GB/T 2423.50-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗(yàn)方法,對(duì)印制電路及電子元器件恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)檢測等項(xiàng)目進(jìn)行準(zhǔn)確測試。

檢測對(duì)象

印制電路及電子元器件

檢測項(xiàng)目

恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)檢測

檢測標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.50-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)檢測

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

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《GJB4.4-1983》艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫貯存試驗(yàn) GJB4.4-1983

《GB/T10125-2012》人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn) GB/T10125-2012

《GB/T 2423.3-2016》環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2016

《GB/T 2423.3-2016》電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2016

《GB/T 2423.10-2019》環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦) GB/T 2423.10-2019

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《GJB4.3-1983》艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫試驗(yàn) GJB4.3-1983

《GJB367A-2001》*用通信設(shè)備通用規(guī)范 4.7.27 低溫試驗(yàn) GJB367A-2001

《GB/T 2423.56-2018》環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2018

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檢測流程步驟

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