檢測(cè)報(bào)告圖片
第三方檢測(cè)報(bào)告有效期
一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子及電氣元件的基本環(huán)境,物理性能和基本電性能等方面的通用試驗(yàn)方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于電阻器,電容器,電感器,連接器,開(kāi)關(guān),繼電器和變壓器等電子及電氣元件。
本標(biāo)準(zhǔn)為元件提供統(tǒng)一的可再現(xiàn)的試驗(yàn)方法,以確定元件對(duì)自然的及與*事作戰(zhàn)有關(guān)的惡劣環(huán)境的適應(yīng)性能力。但不能認(rèn)為本標(biāo)準(zhǔn)中的試驗(yàn)方法是準(zhǔn)確的全面地代表了某一地理位置的實(shí)際使用情況。
本標(biāo)準(zhǔn)是制定*用元件總規(guī)范或產(chǎn)品規(guī)范等技術(shù)文件相應(yīng)部分的基礎(chǔ)和選用依據(jù)。
本標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)內(nèi)容主要包括:環(huán)境試驗(yàn),物理性能試驗(yàn),基本電性能試驗(yàn)。
環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)主要包括:鹽霧腐蝕試驗(yàn),濕熱試驗(yàn),浸漬試驗(yàn),低氣壓試驗(yàn),溫度沖擊試驗(yàn),高溫壽命試驗(yàn),砂塵試驗(yàn),有焰燃燒試驗(yàn),振動(dòng)試驗(yàn),隨機(jī)跌落試驗(yàn),強(qiáng)碰撞沖擊試驗(yàn),機(jī)械沖擊試驗(yàn)等。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
序號(hào) | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) | 檢測(cè)對(duì)象 | 檢測(cè)項(xiàng)目 |
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1 | 電子及電子元件試驗(yàn)方法 GJB 360B-2009(方法101) | 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) | 鹽霧試驗(yàn) |
2 | 射頻電纜組件通用規(guī)范GJB 1215A-2005(4.5.5) | 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) | 溫度沖擊 |
3 | *用裝備環(huán)境試驗(yàn)方法 第11部分:鹽霧試驗(yàn)GJB 150.11A-2009 | 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) | 鹽霧試驗(yàn) |
4 | 電連接器試驗(yàn)方法GJB 1217A-2009(方法1001) | 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) | 鹽霧試驗(yàn) |
5 | 射頻同軸連接器通用規(guī)范GJB 681A-2002(4.5.19) | 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) | 耐濕 |
6 | 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)GB/T 2423.18-2012 | 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) | 鹽霧試驗(yàn) |
7 | 電連接器試驗(yàn)方法GJB 1217A-2009(方法1002) | 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) | 潮濕 |
8 | 同軸、帶狀線或微帶傳輸線用射頻同軸連接器通用規(guī)范GJB 976A-2009(4.5.18) | 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) | 溫度沖擊 |
9 | 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化GB/T 2423.22-2012(7、8) | 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) | 溫度變化 |
10 | 運(yùn)載器、上面級(jí)和航天器試驗(yàn)要求GJB 1027A-2005(6.4.3) | 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) | 熱循環(huán)試驗(yàn) |
檢測(cè)流程步驟
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