檢測(cè)報(bào)告圖片

第三方檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

標(biāo)準(zhǔn)分類中，新型探針涉及到長(zhǎng)度和角度測(cè)量、分析化學(xué)、金屬材料試驗(yàn)、生物學(xué)、植物學(xué)、動(dòng)物學(xué)、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、農(nóng)業(yè)和林業(yè)、半導(dǎo)體材料、光學(xué)設(shè)備、電子設(shè)備用機(jī)械構(gòu)件、絕緣流體、教育、牙科、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、詞匯、土方工程、挖掘、地基構(gòu)造、地下工程、機(jī)器、裝置、設(shè)備的特性和設(shè)計(jì)、機(jī)床裝置、陶瓷、建筑物結(jié)構(gòu)、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量、電工和電子試驗(yàn)、機(jī)床、醫(yī)療設(shè)備、無(wú)損檢測(cè)、電子電信設(shè)備用機(jī)電元件、水質(zhì)、水利建筑、土質(zhì)、土壤學(xué)、消防、管道部件和管道、有色金屬產(chǎn)品、電工器件、電擊防護(hù)、電氣工程綜合、電信設(shè)備用部件和附件、輻射測(cè)量、建筑材料、檢查、維修和試驗(yàn)設(shè)備、航空航天用電氣設(shè)備和系統(tǒng)、航空航天用流體系統(tǒng)和零部件、機(jī)上設(shè)備和儀器、微生物學(xué)、電氣設(shè)備元件、燃燒器、鍋爐、半導(dǎo)體分立器件、導(dǎo)體材料、塑料、電子元器件綜合、航空航天制造用材料、水果、蔬菜及其制品、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合、體積、質(zhì)量、密度和粘度的測(cè)量、力、重力和壓力的測(cè)量。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，新型探針涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、生化試劑、臨床分析試劑、光學(xué)計(jì)量、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、動(dòng)物檢疫、獸醫(yī)與疫病防治、半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、貴金屬及其合金分析方法、工藝美術(shù)品、金屬理化性能試驗(yàn)方法綜合、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、加工專用設(shè)備、綜合技術(shù)、金屬物理性能試驗(yàn)方法、口腔科器械、設(shè)備與材料、、、教學(xué)專用儀器、、、衛(wèi)生檢疫、化學(xué)、特種陶瓷、電工儀器、儀表綜合、醫(yī)療器械綜合、機(jī)床綜合、其他?？破餍?、試驗(yàn)機(jī)與無(wú)損探傷儀器綜合、連接器、數(shù)學(xué)、超聲波與聲放射探傷儀器、建筑工程施工機(jī)械、水文地質(zhì)勘察、金屬無(wú)損檢驗(yàn)方法、植物檢疫、病蟲害防治、、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、石油地質(zhì)勘探、放大鏡與顯微鏡、家用清潔、整容器具、金屬化學(xué)性能試驗(yàn)方法、機(jī)械量?jī)x表、自動(dòng)秤重裝置與其他檢測(cè)儀表、眼科與耳鼻咽喉科手術(shù)器械、一般與顯微外科器械、物理學(xué)與力學(xué)、醫(yī)療設(shè)備通用要求、電纜及其附件、鋼鐵與鐵合金分析方法、混凝土、集料、灰漿、砂漿、交直流電工儀器記錄儀器、醫(yī)用衛(wèi)生用品、稀有金屬及其合金分析方法、加工工藝綜合、敏感元器件及傳感器、醫(yī)用超聲、激光、高頻儀器設(shè)備、建筑構(gòu)造與裝飾工程、電磁計(jì)量、公共醫(yī)療設(shè)備、電子元器件、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、管件、卡箍、密封件、基礎(chǔ)學(xué)科綜合、顏料、醫(yī)用射線設(shè)備、元素半導(dǎo)體材料、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)和通用方法、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、程序語(yǔ)言、防護(hù)設(shè)備的安全要求、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、鍋爐及其輔助設(shè)備、通用電子測(cè)量?jī)x器設(shè)備及系統(tǒng)、電氣設(shè)備與器具綜合、化學(xué)計(jì)量、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電子元件綜合、模具、檢驗(yàn)專用設(shè)備、電氣系統(tǒng)與設(shè)備、工程技術(shù)特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、、包裝材料與容器、計(jì)量綜合、無(wú)線電計(jì)量、供氣器材設(shè)備。

市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于新型探針的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 39518-2020 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 使用單探針和多探針接觸式探測(cè)系統(tǒng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的檢測(cè)不確定度評(píng)估指南

GB/T 17360-2020 微束分析 鋼中低含量硅、錳的電子探針定量分析方法

中華人民共和國(guó)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于新型探針的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 36052-2018 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡數(shù)據(jù)傳送格式

GB/T 36052-2018 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡數(shù)據(jù)傳送格式

GB/T 34797-2017 核酸引物探針質(zhì)量技術(shù)要求

GB/T 16857.5-2017 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè) 第5部分：使用單探針或多探針接觸式探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

質(zhì)檢總局，關(guān)于新型探針的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 36052-2018 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡數(shù)據(jù)傳輸格式

GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法

GB/T 32055-2015 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法元素面分析

GB/T 30705-2014 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定導(dǎo)則

GB/T 29190-2012 掃描探針顯微鏡漂移速率測(cè)量方法

GB/T 28634-2012 微束分析.電子探針顯微分析.塊狀試樣波譜法定量點(diǎn)分析

GB/T 28630.1-2012 白斑綜合征(WSD)診斷規(guī)程.第1部分：核酸探針斑點(diǎn)雜交檢測(cè)法

GB/T 26074-2010 鍺單晶電阻率直流四探針測(cè)量方法

GB/T 14146-2009 硅外延層載流子濃度測(cè)定.汞探針電容-電壓法

GB/T 17363.1-2009 黃金制品金含量無(wú)損測(cè)定方法.第1部分:電子探針微分析法

GB/T 15247-2008 微束分析.電子探針顯微分析.測(cè)定鋼中碳含量的校正曲線法

GB/T 15616-2008 金屬及合金的電子探針定量分析方法

GB/T 17360-2008 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法

GB/T 17506-2008 船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針?lè)治龇椒?/p>

GB/T 15074-2008 電子探針定量分析方法通則

GB/T 4930-2008 微束分析.電子探針?lè)治?標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則

GB/T 21636-2008 微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語(yǔ)

GB/T 20725-2006 波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則

GB/T 16857.5-2004 產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS) 坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè) 第5部分;使用多探針探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

GB/T 15246-2002 硫化物礦物的電子探針定量分析方法

GB/T 15245-2002 稀土氧化物的電子探針定量分析方法

GB/T 15244-2002 玻璃的電子探針定量分析方法

GB/T 15617-2002 硅酸鹽礦物的電子探針定量分析方法

GB/T 17506-1998 船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針?lè)治龇椒?/p>

GB/T 17363-1998 黃金制品的電子探針定量測(cè)定方法

GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則

GB/T 17360-1998 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法

GB/T 17366-1998 礦物巖石的電子探針?lè)治鲈嚇拥闹苽浞椒?/p>

GB/T 17365-1998 金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法

GB/T 15616-1995 金屬及合金的電子探針定量分析方法

GB/T 15394-1994 多探針檢測(cè)臺(tái)通用技術(shù)條件

GB/T 15247-1994 碳鋼和低合金鋼中碳的電子探針的定量分析方法 靈敏度曲線法(檢量線法)

GB/T 15074-1994 電子探針定量分析方法通則

GB/T 15075-1994 電子探針?lè)治鰞x的檢測(cè)方法

GB/T 4930-1993 電子探針?lè)治鰳?biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件

GB/T 14146-1993 硅外延層載流子濃度測(cè)定和探針電容--電壓法

GB 5666-1985 牙探針

教育部，關(guān)于新型探針的標(biāo)準(zhǔn)

JY/T 0582-2020 掃描探針顯微鏡分析方法通則

能源局，關(guān)于新型探針的標(biāo)準(zhǔn)

SY/T 6027-2019 巖石礦物電子探針定量分析方法

標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于新型探針的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 19463-2018 微光束分析.電子探針顯微分析儀(EPMA).執(zhí)行質(zhì)量保證程序的指南

ISO 22489-2016 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品

ISO 11775-2015 表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 普通懸臂彈簧常數(shù)的測(cè)定

ISO 13083-2015 表面化學(xué)分析. 掃描式探針顯微術(shù). 電子掃描式探針顯微術(shù) (ESPM), 例如用于二維摻雜成像等用途的SSRM和SCM, 中空間分辨率的定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

ISO 230-10 AMD 1-2014 機(jī)床試驗(yàn)規(guī)程.第10部分:數(shù)控機(jī)床探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量性能的測(cè)定.修改件1:配掃描探針的探測(cè)系統(tǒng)的測(cè)量性能

ISO 13095-2014 表面化學(xué)分析. 原子力顯微鏡學(xué). 納米結(jié)構(gòu)測(cè)量用AFM探針柄輪廓的現(xiàn)場(chǎng)鑒定程序

ISO 11952-2014 表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 使用SPM測(cè)定幾何量:測(cè)量系統(tǒng)校準(zhǔn)

ISO 25178-605-2014 幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS). 表面紋理: 面. 第605部分: 非接觸式(點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦探針)儀器的標(biāo)稱特性

ISO 17470-2014 微束分析. 電子探針微量分析. 用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)定法定性點(diǎn)分析指南

ISO 18115-2-2013 表面化學(xué)分析.詞匯表.第2部分:掃描-探針顯微鏡檢查中應(yīng)用的術(shù)語(yǔ)

ISO 23833-2013 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯

ISO 16592-2012 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼的碳含量的指南

ISO 11938-2012 微束分析. 電子探針微量分析. 使用波長(zhǎng)色散光譜對(duì)元素映射的分析方法

ISO 11039-2012 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.漂移率的測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)

ISO 27911-2011 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義與校準(zhǔn)

ISO 28600-2011 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡檢查用數(shù)據(jù)傳送格式

ISO 25178-602-2010 產(chǎn)品的幾何技術(shù)規(guī)范(GPS).表面紋理:平面.第602部分:非觸點(diǎn)(共焦易染色探針)儀器的標(biāo)稱屬性

ISO 18115-2-2010 表面化學(xué)分析.詞匯.第2部分:掃描探針顯微鏡檢查中使用的術(shù)語(yǔ)

ISO 14594 CORR 1-2009 微光束分析.電子探針微分析.波長(zhǎng)色散光譜法測(cè)定實(shí)驗(yàn)參數(shù)用指南.技術(shù)勘誤1

ISO 15548-2-2008 無(wú)損檢測(cè).渦流檢驗(yàn)設(shè)備.第2部分:探針特性和驗(yàn)證

ISO 23833-2006 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯

ISO 22489-2006 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品

ISO 16592-2006 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼的碳含量的指南

ISO 18452-2005 精密陶瓷(高級(jí)陶瓷、高級(jí)工業(yè)陶瓷).用接觸式探針輪廓測(cè)定儀測(cè)定陶瓷覆層厚度

ISO 17470-2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分散X射線光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南

ISO/TR 10305-2-2003 道路車輛.電磁場(chǎng)強(qiáng)度測(cè)量設(shè)備的校正.第2部分:9kHz-40GHz的電磁場(chǎng)傳感器和探針(不包括天線)的校正用IEEE標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上關(guān)于《電子探針顯微分析項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)方法大全》內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。