檢測(cè)報(bào)告圖片
第三方檢測(cè)報(bào)告有效期
一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
標(biāo)準(zhǔn)分類中，tem涉及到道路車輛裝置、電磁兼容性(EMC)、空氣質(zhì)量、集成電路、微電子學(xué)、電信設(shè)備用部件和附件、旋轉(zhuǎn)電機(jī)。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，tem涉及到電子、電氣設(shè)備、電磁兼容、車用電子、電氣設(shè)備與儀表綜合、半導(dǎo)體集成電路。
中華人民共和國(guó)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 33014.3-2016 道路車輛 電氣/電子部件對(duì)窄帶輻射電磁能的抗擾性試驗(yàn)方法 第3部分：橫電磁波(TEM)小室法
質(zhì)檢總局，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17626.20-2014 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 橫電磁波(TEM)波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)
，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
GOST R 51048-1997 工業(yè)設(shè)備電磁兼容性.配TEM電池的電磁場(chǎng)發(fā)生器.技術(shù)要求和檢測(cè)方法
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
BS ISO 11452-3-2016 道路車輛. 用窄帶發(fā)射的電磁能量進(jìn)行電子干擾的部件試驗(yàn)方法. 橫電磁波(TEM)小室
BS ISO 11452-3-2016 道路車輛. 用窄帶發(fā)射的電磁能量進(jìn)行電子干擾的部件試驗(yàn)方法. 橫電磁波(TEM)小室
BS EN 62132-2-2011 集成電路.電磁抗擾性的測(cè)量.輻射抗擾度的測(cè)量.TEM單元和寬帶TEM單元方法
BS EN 61000-4-20-2010 電磁兼容性(EMC).試驗(yàn)和測(cè)量方法.橫向電磁(TEM)波導(dǎo)輻射和抗擾試驗(yàn)
BS EN 61967-2-2005 集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射的測(cè)量.第2部分:輻射釋放的測(cè)量.TEM輻射室和寬頻帶TEM輻射室法
BS EN 61000-4-20-2003 電磁兼容性(EMC).第4-20部分:試驗(yàn)和測(cè)量方法.橫向電磁(TEM)波導(dǎo)輻射和抗擾試驗(yàn)
標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
ISO 11452-3-2016 道路車輛.窄帶輻射的電磁能量產(chǎn)生的電干擾.部件試驗(yàn)方法.第3部分:橫向電磁模式(TEM)元件
ISO 11452-3-2001 道路車輛 窄帶輻射的電磁能量產(chǎn)生的電干擾 部件試驗(yàn)方法 第3部分:橫向電磁模式(TEM)元件
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
ASTM D6281-2015 用透射電子顯微鏡術(shù)直接移植法 (TEM) 測(cè)定環(huán)境和室內(nèi)大氣下空氣中石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
JIS C61000-4-20-2014 電磁兼容性(EMC).第4-20部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).橫向電磁波導(dǎo)(TEM)的輻射和抗擾試驗(yàn)
JIS C61000-4-20-2014 電磁兼容性(EMC).第4-20部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).橫向電磁波導(dǎo)(TEM)的輻射和抗擾試驗(yàn)
JIS C61000-4-20-2006 電磁兼容性(EMC).第4-20部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).橫向電磁波導(dǎo)(TEM)的輻射和抗擾試驗(yàn)
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
DIN EN 61000-4-20 Berichtigung 1-2012 電磁兼容性(EMC).第4-20部分:檢測(cè)和測(cè)量技術(shù).橫電磁(TEM)波導(dǎo)的發(fā)射和抗干擾檢測(cè)(IEC 61000-4-20-2010).德文版本EN 61000-4-20-2010, DIN EN 61000-4-20(VDE 0847-4-20)-2011-07的勘誤表
DIN EN 61000-4-20-2011 電磁兼容性(EMC)-第4-20部分:試驗(yàn)和測(cè)量方法.橫向電磁(TEM)波導(dǎo)的輻射和干擾試驗(yàn)(IEC 61000-4-20-2010);德文版本EN 61000-4-20-2010
DIN EN 61000-4-20-2008 電磁兼容性(EMC).第4-20部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).橫向電磁(TEM)波導(dǎo)的輻射和干擾試驗(yàn)
DIN EN 61967-2-2006 集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測(cè)量.第2部分:輻射釋放測(cè)量.TEM輻射室和寬頻TEM輻射室法(IEC 61967-2-2005).德文版本EN 61967-2-2005
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
NF C96-261-2-2011 集成電路.電磁抗擾性測(cè)定.第2部分:抗輻射干擾性測(cè)量.TEM輻射室和寬頻帶TEM輻射室法
NF C91-004-20-2011 電磁適應(yīng)性(EMC).第4-20部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).橫向電磁輻射和抗干擾檢測(cè)(TEM)波導(dǎo).
NF C96-260-2-2006 集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射的測(cè)量.第2部分:TEM輻射室和寬頻TEM輻射室法的輻射測(cè)量
美國(guó)機(jī)動(dòng)車工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
SAE J 1752/3-2011 采用集成電路TEM /寬帶TEM(GTEM)單元方式的輻射排放測(cè)量;TEM單元(150 kHz至1 GHz),寬帶TEM單元(150 kHz至 8 GHz)
SAE J 1113/24-2006 抗磁場(chǎng)輻射干擾.10kHz～200MHz克勞福德TEM電池和10kHz～5GHz寬帶TEM電池
SAE J 1113/24-2000 抗磁場(chǎng)輻射干擾.10kHz到200MHz克勞福德TEM電池和10kHz到5GHz寬波TEM電池
電工委員會(huì)，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
IEC 61000-4-20-2010 電磁兼容性(EMC).第4-20部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).橫向電磁波導(dǎo)(TEM)輻射和干擾試驗(yàn)
IEC 61000-4-20 Edition 1.1-2007 電磁兼容性(EMC).第4-20部分:試驗(yàn)和測(cè)量方法.橫向電磁(TEM)波導(dǎo)的輻射和干擾試驗(yàn)
IEC 61967-2-2005 集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測(cè)量.第2部分:輻射釋放測(cè)量.TEM輻射室和寬頻TEM輻射室法
歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
EN 61000-4-20-2010 電磁兼容性(EMC).第4-20部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).橫向電磁(TEM)波導(dǎo)管的輻射和抗擾試驗(yàn)
EN 61967-2-2005 集成電路.150 kHz至1 GHz電磁輻射的測(cè)量.第2部分:輻射釋放測(cè)量.TEM輻射室和寬頻帶TEM輻射室法 IEC 61967-2:2005
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-郵電通信，關(guān)于tem的標(biāo)準(zhǔn)
YD/T 1690.2-2007 電信設(shè)備內(nèi)部電磁發(fā)射診斷技術(shù)要求和測(cè)量方法(150kHz～1GHz)第2部分：輻射發(fā)射測(cè)量 TEM小室和寬帶TEM小室方法
檢測(cè)流程步驟
溫馨提示：以上關(guān)于《tem分析報(bào)告》內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。
