xrd圖譜分析第三方檢測(cè)單位檢測(cè)中心可以為您提供材料成分分析、指標(biāo)檢測(cè)、性能測(cè)試等服務(wù)。檢測(cè)報(bào)告可以提高消費(fèi)者對(duì)您產(chǎn)品的信賴。

檢測(cè)項(xiàng)目

XRD定量分析、XRD圖譜分析、XRD物相分析、XRD定性分析、XRD結(jié)構(gòu)分析等。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T36655-2018電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態(tài)晶體二氧化硅含量的測(cè)試方法XRD法

ISO22278-2020精細(xì)陶瓷(高級(jí)陶瓷，高級(jí)工業(yè)陶瓷)—使用平行X射線束的XRD方法對(duì)單晶薄膜(晶片)的結(jié)晶質(zhì)量的測(cè)試方法

SN/T3514-2013電工鋼晶粒取向與無(wú)取向鑒定方法X射線衍射測(cè)定織構(gòu)法

YB/T5360-2020金屬材料定量極圖的測(cè)定X射線衍射法

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。