SJ 20176-1992《半導體分立器件 ３ＤＧ３４３９型和３ＤＧ３４４０型ＮＰＮ硅小功率高反壓晶體管詳細規(guī)范》基本信息

標準號：

SJ 20176-1992

中文名稱：

《半導體分立器件 ３ＤＧ３４３９型和３ＤＧ３４４０型ＮＰＮ硅小功率高反壓晶體管詳細規(guī)范》

發(fā)布日期：

1992-11-19

實施日期：

1993-05-01

發(fā)布部門：

中國電子工業(yè)總公司

提出單位：

中國電子工業(yè)總公司科技質(zhì)量局

歸口單位：

中國電子技術標準化研究所

起草單位：

中國電子技術標準化研究所和國營八二三一廠

起草人：

王長福、吳鑫奎、龔云

中國標準分類號：

D01技術管理

SJ 20176-1992《半導體分立器件 ３ＤＧ３４３９型和３ＤＧ３４４０型ＮＰＮ硅小功率高反壓晶體管詳細規(guī)范》介紹

中國電子工業(yè)總公司于1992年發(fā)布了《半導體分立器件 3DG3439型和3DG3440型NPN硅小功率高反壓晶體管詳細規(guī)范》（以下簡稱"SJ 20176-1992標準"），并于1993年5月1日起正式實施。

一、技術要求

1、外觀質(zhì)量

晶體管的外觀應無裂紋、無明顯變形，表面應清潔、無油污、無銹蝕，引腳應無折斷、無彎曲。

2、電性能參數(shù)

晶體管的電性能參數(shù)應滿足標準規(guī)定的要求，包括集電極-發(fā)射極擊穿電壓、集電極電流、電流放大系數(shù)等。

3、溫度特性

晶體管在規(guī)定的溫度范圍內(nèi)應具有良好的溫度特性，包括溫度系數(shù)、溫度穩(wěn)定性等。

4、可靠性

晶體管應具有良好的可靠性，包括長時間工作穩(wěn)定性、抗靜電能力等。

二、試驗方法

1、外觀檢查

對晶體管的外觀進行目視檢查，以確保其滿足外觀質(zhì)量要求。

2、電性能測試

對晶體管的電性能參數(shù)進行測試，以評估其性能是否符合標準要求。

3、溫度特性測試

對晶體管在不同溫度下的性能進行測試，以評估其溫度特性。

4、可靠性測試

對晶體管進行長時間工作、抗靜電等可靠性測試，以評估其可靠性。

三、檢驗規(guī)則

1、檢驗分類

晶體管的檢驗分為型式檢驗和出廠檢驗。

2、抽樣規(guī)則

對晶體管進行抽樣檢驗，以評估其整體質(zhì)量。

3、合格判定

根據(jù)檢驗結(jié)果，對晶體管進行合格判定。

四、標志、包裝、運輸和儲存

1、標志

晶體管應有清晰的型號、規(guī)格、生產(chǎn)日期等標志。

2、包裝

晶體管的包裝應符合標準要求，以保護晶體管在運輸過程中不受損壞。

3、運輸

晶體管在運輸過程中應避免劇烈震動、高溫等不利因素。

4、儲存

晶體管應儲存在干燥、通風、無腐蝕性氣體的環(huán)境中。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。