GB/T 29190-2012《掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法》基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：

GB/T 29190-2012

中文名稱：

《掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法》

發(fā)布日期：

2012-12-31

實(shí)施日期：

2013-06-01

發(fā)布部門：

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

提出單位：

中國科學(xué)院

歸口單位：

全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC279)歸口。

起草單位：

中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)、上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院

起草人：

黃文浩、陳宇航、李源、傅云霞、褚家如、李家文、牛頓、朱五林、劉一

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：

A60光學(xué)計(jì)量

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：

17.180.99有關(guān)光學(xué)和光學(xué)測量的其他標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 29190-2012《掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法》介紹

GB/T 29190-2012《掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法》是國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局和中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)于2012年12月31日發(fā)布，2013年6月1日實(shí)施的一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)。

一、標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

GB/T 29190-2012適用于掃描探針顯微鏡（SPM）的漂移速率測量，包括原子力顯微鏡（AFM）、掃描隧道顯微鏡（STM）等類型的掃描探針顯微鏡。該標(biāo)準(zhǔn)適用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的掃描探針顯微鏡的漂移速率測量。

二、測量原理

掃描探針顯微鏡的漂移速率是指在掃描過程中，由于各種因素（如溫度、濕度、機(jī)械振動(dòng)等）引起的圖像位置的相對(duì)變化。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了基于時(shí)間序列分析的漂移速率測量方法，通過測量掃描探針顯微鏡在一定時(shí)間內(nèi)的圖像位置變化，計(jì)算出漂移速率。

三、測量步驟

1、準(zhǔn)備工作：確保掃描探針顯微鏡處于穩(wěn)定狀態(tài)，環(huán)境條件（如溫度、濕度）滿足測量要求。

2、進(jìn)行掃描：在規(guī)定的時(shí)間間隔內(nèi)，對(duì)同一區(qū)域進(jìn)行多次掃描，獲得時(shí)間序列的掃描圖像。

3、圖像處理：對(duì)掃描圖像進(jìn)行預(yù)處理，如去噪、校正等，以提高測量精度。

4、計(jì)算漂移速率：根據(jù)時(shí)間序列的掃描圖像，采用數(shù)學(xué)方法計(jì)算出漂移速率。

四、測量結(jié)果的表示和分析

GB/T 29190-2012要求測量結(jié)果應(yīng)以漂移速率的數(shù)值表示，單位為納米/秒（nm/s）。同時(shí)，應(yīng)分析漂移速率與環(huán)境條件、儀器參數(shù)等因素的影響，以指導(dǎo)實(shí)際應(yīng)用中的漂移補(bǔ)償和測量精度的提高。

五、標(biāo)準(zhǔn)的意義

GB/T 29190-2012的發(fā)布和實(shí)施，對(duì)于提高我國掃描探針顯微鏡的測量精度和穩(wěn)定性具有重要意義。該標(biāo)準(zhǔn)為掃描探針顯微鏡的漂移速率測量提供了統(tǒng)一的方法和規(guī)范，有助于推動(dòng)掃描探針顯微鏡技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用。

六、標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用前景

隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，掃描探針顯微鏡在納米科學(xué)、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。GB/T 29190-2012的實(shí)施將有助于提高掃描探針顯微鏡的測量精度，為相關(guān)領(lǐng)域的研究和產(chǎn)業(yè)發(fā)展提供有力的技術(shù)支撐。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請(qǐng)咨詢客服。