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GB/T 11378-1989《金屬覆蓋層厚度 輪廓尺寸測量方法》

檢測報(bào)告圖片樣例

GB/T 11378-1989《金屬覆蓋層厚度 輪廓尺寸測量方法》基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號:

GB/T 11378-1989

中文名稱:

《金屬覆蓋層厚度 輪廓尺寸測量方法》

發(fā)布日期:

1989-06-29

實(shí)施日期:

1990-01-01

發(fā)布部門:

國家技術(shù)監(jiān)督局

歸口單位:

金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號:

A29材料防護(hù)

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:

25.220.40金屬鍍層

GB/T 11378-1989《金屬覆蓋層厚度 輪廓尺寸測量方法》介紹

國家技術(shù)監(jiān)督局于1989年發(fā)布了GB/T 11378-1989《金屬覆蓋層厚度 輪廓尺寸測量方法》標(biāo)準(zhǔn)。

一、標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

GB/T 11378-1989標(biāo)準(zhǔn)適用于金屬覆蓋層厚度的輪廓尺寸測量,包括但不限于電鍍、化學(xué)鍍、熱噴涂、涂裝等工藝形成的金屬覆蓋層。該標(biāo)準(zhǔn)不適用于非金屬覆蓋層的測量。

二、測量方法

1、破壞性切片法

破壞性切片法是通過將金屬覆蓋層從基體上剝離,然后使用顯微鏡測量其厚度。該方法適用于厚度較大的金屬覆蓋層。

2、X射線熒光法

X射線熒光法是通過使用X射線照射金屬覆蓋層,然后測量其反射回來的熒光信號,從而計(jì)算出覆蓋層的厚度。該方法適用于厚度較小的金屬覆蓋層。

3、電子探針顯微分析法

電子探針顯微分析法是通過使用電子束轟擊金屬覆蓋層,然后測量其反射回來的信號,從而確定覆蓋層的厚度。該方法適用于厚度較小且要求精度較高的金屬覆蓋層。

三、測量條件

1、環(huán)境條件:測量應(yīng)在無塵、無振動、溫度和濕度適宜的環(huán)境中進(jìn)行。

2、儀器設(shè)備:使用的測量儀器應(yīng)經(jīng)過校準(zhǔn),并滿足測量精度的要求。

3、測量人員:測量人員應(yīng)具備相應(yīng)的專業(yè)知識和技能,并熟悉測量方法和操作規(guī)程。

四、測量結(jié)果的表示

1、測量結(jié)果應(yīng)以平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差的形式表示。

2、測量結(jié)果應(yīng)注明測量方法、測量條件和測量儀器的型號和規(guī)格。

3、測量結(jié)果應(yīng)以書面形式報(bào)告,并由測量人員簽字確認(rèn)。

檢測流程步驟

檢測流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。

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