GB/T 9790-1988《金屬覆蓋層及其他有關(guān)覆蓋層維氏和努氏顯微硬度試驗(yàn)》基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):
GB/T 9790-1988中文名稱:
《金屬覆蓋層及其他有關(guān)覆蓋層維氏和努氏顯微硬度試驗(yàn)》發(fā)布日期:
1988-09-05實(shí)施日期:
1989-09-01發(fā)布部門:
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局提出單位:
機(jī)械電子工業(yè)部中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):
A29材料防護(hù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):
25.220.40金屬鍍層GB/T 9790-1988《金屬覆蓋層及其他有關(guān)覆蓋層維氏和努氏顯微硬度試驗(yàn)》介紹
GB/T 9790-1988《金屬覆蓋層及其他有關(guān)覆蓋層維氏和努氏顯微硬度試驗(yàn)》是一項(xiàng)關(guān)于金屬覆蓋層硬度測(cè)量的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)由國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布,自1989年9月1日起實(shí)施。
一、標(biāo)準(zhǔn)適用范圍
GB/T 9790-1988標(biāo)準(zhǔn)適用于金屬覆蓋層及其他相關(guān)覆蓋層的維氏和努氏顯微硬度試驗(yàn)。這些覆蓋層可能包括金屬鍍層、涂覆層、電鍍層、化學(xué)鍍層、合金化層等。通過(guò)硬度測(cè)量,可以評(píng)估覆蓋層的質(zhì)量和性能,為金屬制品的生產(chǎn)和應(yīng)用提供重要依據(jù)。
二、硬度測(cè)試方法
3.1 維氏顯微硬度試驗(yàn)
維氏顯微硬度試驗(yàn)是一種常用的硬度測(cè)試方法,適用于測(cè)量金屬覆蓋層的硬度。該方法使用鉆石壓頭在試樣表面施加規(guī)定負(fù)荷,測(cè)量壓痕對(duì)角線長(zhǎng)度,然后根據(jù)壓痕尺寸和負(fù)荷計(jì)算硬度值。
3.2 努氏顯微硬度試驗(yàn)
努氏顯微硬度試驗(yàn)是另一種硬度測(cè)試方法,適用于測(cè)量較薄或較軟的金屬覆蓋層。該方法使用鉆石壓頭在試樣表面施加較小的負(fù)荷,測(cè)量壓痕對(duì)角線長(zhǎng)度,然后根據(jù)壓痕尺寸和負(fù)荷計(jì)算硬度值。
三、試驗(yàn)步驟和要求
4.1 試樣制備
需要制備合適的試樣。試樣應(yīng)具有代表性,尺寸和形狀應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
4.2 試驗(yàn)設(shè)備
硬度試驗(yàn)需要使用專業(yè)的顯微硬度計(jì)。設(shè)備應(yīng)定期校準(zhǔn),以確保試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
4.3 試驗(yàn)過(guò)程
在試驗(yàn)過(guò)程中,應(yīng)按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的負(fù)荷、時(shí)間和壓痕尺寸進(jìn)行操作。試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)避免對(duì)試樣造成損傷。
4.4 結(jié)果計(jì)算
根據(jù)試驗(yàn)所得的壓痕尺寸和負(fù)荷,按照公式計(jì)算硬度值。硬度值應(yīng)以HV(維氏硬度)或HK(努氏硬度)表示。
4.5 結(jié)果評(píng)估
對(duì)多個(gè)試樣進(jìn)行多次試驗(yàn),以獲得可靠的硬度數(shù)據(jù)。根據(jù)硬度值評(píng)估覆蓋層的性能,如耐磨性、耐腐蝕性等。
四、標(biāo)準(zhǔn)的意義和作用
GB/T 9790-1988標(biāo)準(zhǔn)為金屬覆蓋層硬度測(cè)試提供了統(tǒng)一的方法和要求,有助于提高金屬制品的質(zhì)量。通過(guò)硬度測(cè)試,可以評(píng)估覆蓋層的耐磨性、耐腐蝕性等性能,為金屬制品的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和應(yīng)用提供重要依據(jù)。該標(biāo)準(zhǔn)還有助于規(guī)范金屬覆蓋層硬度測(cè)試的操作方法,提高試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。
GB/T 9790-1988《金屬覆蓋層及其他有關(guān)覆蓋層維氏和努氏顯微硬度試驗(yàn)》是一項(xiàng)重要的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),對(duì)金屬覆蓋層硬度測(cè)試具有重要的指導(dǎo)意義。通過(guò)深入理解和正確應(yīng)用該標(biāo)準(zhǔn),可以提高金屬制品的質(zhì)量,促進(jìn)金屬加工行業(yè)的技術(shù)進(jìn)步和發(fā)展。
檢測(cè)流程步驟
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