本文主要列舉了關(guān)于半導體分立器件壽命評價試驗的相關(guān)檢測標準，檢測標準僅供參考，如果您想了解自己的樣品需要哪些檢測標準，可以咨詢我們。

GB/T 12560-1999：半導體器件 分立器件分規(guī)范

QJ 1511A-1998：半導體分立器件驗收規(guī)范

GB/T 7581-1987：半導體分立器件外形尺寸

GB/T 11499-2001：半導體分立器件文字符號

GB/T 249-2017：半導體分立器件型號命名方法

QJ 787-1983：半導體分立器件篩選技術(shù)條件

QJ 10007-2008：宇航用半導體分立器件通用規(guī)范

SJ/T 10149-1991(2009)：電子元器件圖形庫 半導體分立器件圖形

GB/T 43366-2023：宇航用半導體分立器件通用規(guī)范

SJ/T 11874-2022：電動汽車用半導體分立器件應力試驗程序

GB/T 20516-2006：半導體器件 分立器件 第4部分:微波器件

SJ 20756-1999：半導體分立器件結(jié)構(gòu)相似性應用指南

QJ 2502-1993：抗輻射加固半導體分立器件通用技術(shù)條件

GB/T 15651.4-2017：半導體器件 分立器件 第5-4部分:光電子器件 半導體激光器

SJ/Z 21580-2018：半導體分立器件統(tǒng)計過程控制技術(shù)實施指南

SJ/Z 21580-2020：半導體分立器件統(tǒng)計過程控制技術(shù)實施指南

JJG (電子) 310002-2006：半導體分立器件直流參數(shù)測試儀檢定規(guī)程

JJG (電子) 310003-2006：半導體分立器件電容參數(shù)測試儀檢定規(guī)程

GB/T 17573-1998：半導體器件 分立器件和集成電路 第1部分:總則

GB/T 4589.1-2006：半導體器件 第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范

GB/T 4587-2023：半導體器件 分立器件 第7部分：雙極型晶體管

SJ/T 11820-2022：半導體分立器件直流參數(shù)測試設(shè)備技術(shù)要求和測量方法

GB/T 15651-1995：半導體器件 分立器件和集成電路 第5部分:光電子器件

GB/T 4586-1994：半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管

GB/T 29332-2012：半導體器件 分立器件 第9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT)

SJ 20310-1993：半導體分立器件3DD101型功率晶體管詳細規(guī)范

SJ 20066-1992：半導體分立器件 2CL3型硅高壓整流堆詳細規(guī)范

SJ 50033/30-1994：半導體分立器件 3DD155型功率晶體管詳細規(guī)范

SJ 50033/37-1994：半導體分立器件 3DD164型功率晶體管詳細規(guī)范

SJ 20072-1992：半導體分立器件 GH24、GH25和GH26型半導體光耦合器詳細規(guī)范

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。