本文主要列舉了關(guān)于半導(dǎo)體集成電路的相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)，檢測標(biāo)準(zhǔn)僅供參考，如果您想了解自己的樣品需要哪些檢測標(biāo)準(zhǔn)，可以咨詢我們。

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GB/T 14028-2018：半導(dǎo)體集成電路 模擬開關(guān)測試方法

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GB/T 17574-1998：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路

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SJ 20758-1999：半導(dǎo)體集成電路CMOS門陣列器件規(guī)范

GB/T 38345-2019：宇航用半導(dǎo)體集成電路通用設(shè)計(jì)要求

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QJ 2875-1997：半導(dǎo)體集成電路CMOS數(shù)字門陣列詳細(xì)規(guī)范

GB/T 42839-2023：半導(dǎo)體集成電路 模擬數(shù)字（AD）轉(zhuǎn)換器

QJ 3092-1999：半導(dǎo)體集成電路HCT與門、與非門詳細(xì)規(guī)范

檢測流程步驟

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