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半導體分立器件篩選檢測檢驗測試標準依據

檢測報告圖片樣例

本文主要列舉了關于半導體分立器件篩選的相關檢測標準,檢測標準僅供參考,如果您想了解自己的樣品需要哪些檢測標準,可以咨詢我們。

QJ 787-1983:半導體分立器件篩選技術條件

GB/T 12560-1999:半導體器件 分立器件分規(guī)范

QJ 1511A-1998:半導體分立器件驗收規(guī)范

GB/T 7581-1987:半導體分立器件外形尺寸

GB/T 11499-2001:半導體分立器件文字符號

GB/T 249-2017:半導體分立器件型號命名方法

QJ 10007-2008:宇航用半導體分立器件通用規(guī)范

SJ/T 10149-1991(2009):電子元器件圖形庫 半導體分立器件圖形

GB/T 43366-2023:宇航用半導體分立器件通用規(guī)范

GB/T 20516-2006:半導體器件 分立器件 第4部分:微波器件

SJ 20756-1999:半導體分立器件結構相似性應用指南

QJ 2502-1993:抗輻射加固半導體分立器件通用技術條件

SJ/T 11874-2022:電動汽車用半導體分立器件應力試驗程序

GB/T 15651.4-2017:半導體器件 分立器件 第5-4部分:光電子器件 半導體激光器

SJ/Z 21580-2018:半導體分立器件統(tǒng)計過程控制技術實施指南

SJ/Z 21580-2020:半導體分立器件統(tǒng)計過程控制技術實施指南

JJG (電子) 310002-2006:半導體分立器件直流參數測試儀檢定規(guī)程

JJG (電子) 310003-2006:半導體分立器件電容參數測試儀檢定規(guī)程

GB/T 17573-1998:半導體器件 分立器件和集成電路 第1部分:總則

GB/T 4589.1-2006:半導體器件 第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范

GB/T 4587-2023:半導體器件 分立器件 第7部分:雙極型晶體管

SJ/T 11820-2022:半導體分立器件直流參數測試設備技術要求和測量方法

GB/T 15651-1995:半導體器件 分立器件和集成電路 第5部分:光電子器件

GB/T 4586-1994:半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管

GB/T 29332-2012:半導體器件 分立器件 第9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT)

SJ 20310-1993:半導體分立器件3DD101型功率晶體管詳細規(guī)范

SJ 20066-1992:半導體分立器件 2CL3型硅高壓整流堆詳細規(guī)范

SJ 50033/30-1994:半導體分立器件 3DD155型功率晶體管詳細規(guī)范

SJ 50033/37-1994:半導體分立器件 3DD164型功率晶體管詳細規(guī)范

SJ 20072-1992:半導體分立器件 GH24、GH25和GH26型半導體光耦合器詳細規(guī)范

檢測流程步驟

檢測流程步驟

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