本文主要列舉了關(guān)于二極管的相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)僅供參考，如果您想了解自己的樣品需要哪些檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，可以咨詢我們。

JY 182-1984：真空二極管

WJ 2100-2004：硅光電二極管、硅雪崩光電二極管測(cè)試方法

SJ/T 11624-2016：發(fā)光二極管(LED)顯示屏用發(fā)光二極管規(guī)范

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SJ/T 11624-2016(2017)：發(fā)光二極管(LED)顯示屏用發(fā)光二極管規(guī)范

QJ 1907-1990：PIN二極管篩選規(guī)范

CNS 15497-2011：發(fā)光二極管投光燈具

GB/T 6589-2002：半導(dǎo)體器件 分立器件 第3-2部分:信號(hào)(包括開(kāi)關(guān))和調(diào)整二極管電壓調(diào)整二極管和電壓基準(zhǔn)二極管(不包括溫度補(bǔ)償精密基準(zhǔn)二極管)空白詳細(xì)規(guī)范

JB/T 7624-2013(2017)：整流二極管測(cè)試方法

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YD/T 834-1996(2017)：分布反饋激光二極管檢測(cè)方法

YD/T 835-1996：雪崩光電二極管檢測(cè)方法

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YD/T 834-1996(2015)：分布反饋激光二極管檢測(cè)方法

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SJ/T 2749-2016(2017)：半導(dǎo)體激光二極管測(cè)試方法

QJ 2362-1992：階躍恢復(fù)二極管篩選規(guī)范

YD/T 835-1996(2015)：雪崩光電二極管檢測(cè)方法

SJ/T 2749-2016：半導(dǎo)體激光二極管測(cè)試方法

SJ/T 11767-2020：二極管低頻噪聲參數(shù)測(cè)試方法

GB/T 35846-2018：發(fā)光二極管照明用玻璃管

GB/T 15649-1995：半導(dǎo)體激光二極管空白詳細(xì)規(guī)范

CJ/T 361-2011：水景用發(fā)光二極管(LED)燈

SJ/T 11394-2009：半導(dǎo)體發(fā)光二極管測(cè)試方法

YD/T 701-1993(2017)：半導(dǎo)體激光二極管組件測(cè)試方法

SJ/T 2216-2015：硅光電二極管技術(shù)規(guī)范

QJ 1299-1987：硅微波混頻、檢波二極管篩選規(guī)范

SJ/T 11394-2009(2017)：半導(dǎo)體發(fā)光二極管測(cè)試方法

GB/T 16894-1997：大于100A,環(huán)境和管殼額定的整流二極管(包括雪崩整流二極管)空白詳細(xì)規(guī)范

SJ/T 2216-2015(2017)：硅光電二極管技術(shù)規(guī)范

檢測(cè)流程步驟

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