本文主要列舉了關(guān)于數(shù)字集成電路的相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)僅供參考，如果您想了解自己的樣品需要哪些檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，可以咨詢我們。
GB/T 17574-1998：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路
JJG 1015-2006：通用數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)檢定規(guī)程
GB/T 35004-2018：數(shù)字集成電路 輸入/輸出電氣接口模型規(guī)范
GB/T 17572-1998：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 第四篇 CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范
GB/T 17574.20-2006：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2-20部分:數(shù)字集成電路 低壓集成電路族規(guī)范
GB/T 9424-1998：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 第五篇 CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細(xì)規(guī)范
GB/T 5965-2000：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 第一篇 雙極型單片數(shù)字集成電路門電路(不包括自由邏輯陣列) 空白詳細(xì)規(guī)范
JJG (電子) 31009-2007：數(shù)字集成電路參數(shù)傳遞標(biāo)準(zhǔn)器組檢定規(guī)程
JJF 1160-2006：中小規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范
JJG (電子) 04035-1989：GR-1732M型數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)(試行)
GB/T 17023-1997：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 第二篇 HCMOS數(shù)字集成電路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族規(guī)范
JJG (船舶) 22-1998：SID大規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)檢定規(guī)程
GB/T 17024-1997：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 第三篇 HCMOS數(shù)字集成電路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白詳細(xì)規(guī)范
GB/T 17574.10-2003：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2-10部分:數(shù)字集成電路集成電路動(dòng)態(tài)讀/寫(xiě)存儲(chǔ)器空白詳細(xì)規(guī)范
GB/T 17574.11-2006：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2-11部分:數(shù)字集成電路 單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器 空白詳細(xì)規(guī)范
GB/T 17574.9-2006：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2-9部分:數(shù)字集成電路 紫外光擦除電可編程MOS只讀存儲(chǔ)器空白詳細(xì)規(guī)范
GB/T 12842-1991：膜集成電路和混和膜集成電路術(shù)語(yǔ)
GB/T 8976-1996：膜集成電路和混合膜集成電路總規(guī)范
GB/T 9178-1988：集成電路術(shù)語(yǔ)
GB/T 15138-1994：膜集成電路和混合集成電路外形尺寸
QJ 2875-1997：半導(dǎo)體集成電路CMOS數(shù)字門陣列詳細(xì)規(guī)范
GB/T 42839-2023：半導(dǎo)體集成電路 模擬數(shù)字（AD）轉(zhuǎn)換器
SJ 20954-2006：集成電路鎖定試驗(yàn)
QJ 1995A-1998：集成電路驗(yàn)收規(guī)范
QJ 2775-1995：集成電路包裝規(guī)范
GB/T 17940-2000：半導(dǎo)體器件 集成電路 第３部分：模擬集成電路
GB/T 11498-2018：半導(dǎo)體器件 集成電路 第21部分:膜集成電路和混合膜集成電路分規(guī)范(采用鑒定批準(zhǔn)程序)
GB/T 16465-1996：膜集成電路和混合膜集成電路分規(guī)范(采用能力批準(zhǔn)程序)
GB/T 40577-2021：集成電路制造設(shè)備術(shù)語(yǔ)
SJ/T 11740-2019：集成電路自動(dòng)塑封系統(tǒng)
檢測(cè)流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。
