汽車電子元器件正弦掃頻振動試驗(yàn)是模擬車輛在嚴(yán)酷環(huán)境下的可靠性測試，也是AEC-Q認(rèn)證腔封裝完整性測試中的一項(xiàng)重要測試。

汽車電子元器件正弦掃頻振動試驗(yàn)

測試設(shè)備

正弦掃頻振動試驗(yàn)儀

測試標(biāo)準(zhǔn)

JEDEC JESD22-B103 振動，變頻標(biāo)準(zhǔn)

測試要求

1、產(chǎn)品應(yīng)能經(jīng)受X、Y、Z三個方向的掃頻振動試驗(yàn)。根據(jù)產(chǎn)品的安裝部位，其掃頻振動試驗(yàn)的嚴(yán)酷度等級應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。

2、產(chǎn)品通常在不工作及正常安裝狀態(tài)下經(jīng)受試驗(yàn)，當(dāng)需要在工作狀態(tài)下試驗(yàn)時，應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中做出規(guī)定。產(chǎn)品經(jīng)振動試驗(yàn)后，零部件應(yīng)無損壞，緊固件應(yīng)無松脫現(xiàn)象，性能應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。

3、振動試驗(yàn)的檢測點(diǎn)一般定為試驗(yàn)夾具與試驗(yàn)臺的結(jié)合處，當(dāng)檢測點(diǎn)有特別要求時應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。

4、試驗(yàn)只接受0失效

AEC Q100

測試對象

集成電路

測試數(shù)量

15pcs

測試程序

1、20Hz——2000Hz——20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，

2、每軸向4次，峰值加速度50g。

3、測試前后的性能檢查在常溫下測試8h。

AEC Q101

測試對象

離散半導(dǎo)體

測試數(shù)量

15pcs

測試程序

1、試樣為密封件。

2、20Hz——100Hz   峰峰值位移：0.06inch;。

3、100Hz——2000Hz,加速度50g。

4、測試前后的性能檢查在常溫下測試8h。

AEC Q102

測試對象

離散光電半導(dǎo)體器件

測試數(shù)量

10PCS

測試程序

1、20Hz——100Hz   峰峰值位移：0.06inch，

2、100Hz——2000Hz,加速度20g，

測試前后的性能檢查在常溫下測試8h。

AEC Q103-002

測試對象

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)壓力傳感器器件

測試數(shù)量

39pcs

測試程序

1、M1等級：20Hz——2000Hz——20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g

2、M2等級：10Hz——2000Hz——10Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g

3、測試前后的性能檢查在常溫下測試8h。

4、備選方案：由任務(wù)文件制定。

AEC Q103-003

測試對象

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)麥克風(fēng)器件

測試數(shù)量

12pcs

測試程序

1、20Hz——2000Hz——20Hz（對數(shù)掃頻）＜12min，

2、每軸向4次，峰值加速度20g，

3、測試前后的性能檢查在常溫下測試8h。

AEC Q104

測試對象

多芯片模塊(MCM)

測試數(shù)量

15pcs

測試程序

1、20Hz——2000Hz——20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min。

2、每軸向4次，峰值加速度50g，

3、測試前后的性能檢查在常溫下測試8h。

試驗(yàn)測試周期

在實(shí)驗(yàn)室排期能滿足的情況下，一般2-3個月。

試驗(yàn)測試費(fèi)用

根據(jù)客戶提供的詳細(xì)規(guī)格書，依據(jù)AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)解讀，有些項(xiàng)目不需要進(jìn)行，也就是說做車規(guī)AEC-Q認(rèn)證，并非AEC-Q認(rèn)證里面列明的所有試驗(yàn)項(xiàng)目都需要執(zhí)行，根據(jù)試驗(yàn)項(xiàng)目決定測試費(fèi)用。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。