檢測(cè)項(xiàng)目：晶向檢測(cè)

晶向檢測(cè)范圍

藍(lán)寶石晶體，單晶硅，硅棒，鋯石，金剛石，砷化鎵，管材，半導(dǎo)體，硅片，晶體，氧化鋁，碳化硅，銅合金，陶瓷等。

晶向檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 1555-2009半導(dǎo)體單晶晶向測(cè)定方法

GB/T 34210-2017藍(lán)寶石單晶晶向測(cè)定方法

GB/T 39137-2020難熔金屬單晶晶向測(cè)定方法

SJ/T 11500-2015碳化硅單晶晶向的檢測(cè)方法

YS/T 23-2016硅外延層厚度測(cè)定 堆垛層錯(cuò)尺寸法

檢測(cè)流程步驟

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