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GB 7287.9-1987 紅外輻射加熱器全法向發(fā)射率測量方法標(biāo)準(zhǔn)

檢測報(bào)告圖片樣例

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GB 7287.9-1987.Measuriog method for norm al total emittance of infrared beater.

2.2.7輻射測溫儀, 精度不低于+ 1 %。

注:由探測器、放大系統(tǒng)及毫伏表組成的探測系統(tǒng)也可由*輻射功事計(jì)代替,其精度不低于土2 %。.

2.8 參比涂料

2.8.1參比徐料應(yīng)具有下列性質(zhì):

a.化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定,在測試溫度范圍內(nèi)涂覆于各種加熱器表面均不發(fā)生化學(xué)變化;

b. 當(dāng)厚度不小于0.2mm時(shí),對1 ~ 25μm的紅外輻射不透明;

c.全法向發(fā) 射率在測試溫度范圍內(nèi)的平均溫度變化率小于0.03x 10 -2/K;

d. 全法向發(fā)射率大于0.8,光譜輻射特性近似灰體。

2.3.2所給 參比涂料在測試溫度范圍內(nèi)的全法向發(fā)射率數(shù)據(jù),其精度應(yīng)不低于土4 %。

3測量條件

a.環(huán)境溫度20士5 C。

b.相對 濕度不大于75%。

c.測量 應(yīng)在防塵防震的實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行。

4測量步驟

4.1對待測 試樣施加額定工作電壓,待溫度穩(wěn)定后,用輻射測溫儀測定試樣表面溫度分布,并確定其中心部位的等溫區(qū)以及等溫區(qū)的工作溫度,然后斷電冷卻至室溫。

4.2將試樣固定在試樣支架上,調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)達(dá)到下列要求: .

a.探測器光敏面與調(diào)制盤平面,光欄平面及試樣輻射面相互平行且共軸;

b.有效限束 光欄對探測器所張的視場角不大于5.7°;

c.由有效限束光欄所決定的試樣待測面積位于等溫區(qū)內(nèi)并小于等溫區(qū)面積。

4.3將控溫儀熱電偶焊接或粘接于待測面附近(在等溫區(qū)內(nèi))。用控溫儀將待測表面溫度控制在其工作溫度。待溫度穩(wěn)定后,測量放大系統(tǒng)輸出的試樣與調(diào)制盤差分信號電壓U,.

4.4關(guān)閉控溫儀, 試樣冷卻至室溫后,在等溫區(qū)內(nèi)均勻涂覆參比涂料,涂覆厚度為0.2mm,涂覆方法與獲取其發(fā)射率數(shù)據(jù)的原測較方法中的一致。然后開啟控溫儀(設(shè)定溫度與4.3條相同)。溫度穩(wěn)定后,測量放大系統(tǒng)輸出的參比徐料與調(diào)制盤差分信號電壓U.。

4.5移開試樣,測較放大系統(tǒng)輸出的背景與調(diào)制盤差分信號電壓Uw。

4.6用輻射測溫儀測量等溫區(qū)的表觀工作溫度Tr。

5測量結(jié)果計(jì)算

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檢測流程步驟

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