GB 7287.10-1987 紅外輻射加熱器光譜法向發(fā)射率測量方法標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容是什么？檢測報告如何辦理呢？百檢為您提供一站式的檢測服務(wù)。

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GB 7287.10-1987.Measuring method for normal spectral emittence of i nfrared heater.

2.2.8 輻射測溫儀，精度不低于土1 %。

注:記錄部分也可由A/D轉(zhuǎn)換器、微型計算機及繪儀組成的記錄系統(tǒng)代替，系統(tǒng)精度不低于士2%。

2.3參比徐料

2.3.1參比涂料應(yīng)具有下列性質(zhì):

a.化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定，在測試溫度范圍內(nèi)涂覆于各種加熱器表面均不發(fā)生化學(xué)變化;

b.當(dāng) 厚度不小于0.2m m時，至少對2. 5~ 15μm的紅外輻射不透明;

c.光譜法向發(fā) 射率在測試溫度范圍內(nèi)的平均溫度變化率小于0.03x 10-2/K ;

d. 全法向發(fā)射率大于0.8， 光譜輻射特性近似灰體。

2.3.2所給參比涂料在測試溫度范圍內(nèi)的光譜法向發(fā)射率數(shù)據(jù)，其精度應(yīng)不低于士4 %。

3測量條件

3.1 環(huán)境溫度20土5 C。

3.2相對濕度不大于75%。

3.3測量應(yīng)在防塵防霞的實驗室中進(jìn)行。

4測量步驟

4.1對待測試樣施加額定工作電壓，待溫度穩(wěn)定后，用輻射測溫儀測定試樣表面溫度分布，并確定其期心部位的等溫區(qū)以及等溫區(qū)的工作溫度，然后斷電冷卻至室溫。

4.2 將試樣固定在試樣支架上，調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)達(dá)到下列要求:

4.2.1探測器光敏面與調(diào)制盤平面，光欄平面，試樣輻射面及單色儀入射狹縫平面相互平行且共軸;

4.2.2光學(xué) 系統(tǒng)所決定的試樣待測面積相對于探測器可作“點源”近似，且位于 等溫區(qū)內(nèi)并小于籌溫區(qū)面積。

4.3將控溫儀熱電偶焊接或粘接于待測面附近(在等溫區(qū)內(nèi))。用控溫儀將待測表面溫度控制在其工作溫度。待溫度穩(wěn)定后，開啟單色儀的掃描裝置，使之在2.5~ 15μm波長范圍內(nèi)進(jìn)行連續(xù)掃描，同時使記錄儀的走紙機構(gòu)與之同步，測出放大系統(tǒng)輸出的試樣與調(diào)制盤差分光譜信號電壓U。隨鈹長變化的關(guān)系曲線。

4.4關(guān)閉控溫儀， 試樣冷卻至室溫后，在等溫區(qū)內(nèi)均勻徐覆參比涂料，涂覆厚度為o. 2mm,徐覆方法與獲取其發(fā)射率數(shù)據(jù)的原測量方法中的一致。然后開啟控溫儀(設(shè)定溫度與4. 3條相同)。溫度穩(wěn)定后，按4. 3條的方法測出放大系統(tǒng)輸出的參比徐料與調(diào)制盤差分光譜信號電壓U.隨波長變化的關(guān)系曲線。

4.5.移開試樣，測量放大系統(tǒng)輸出的背景與調(diào)制盤差分光譜信號電BEUw,隨波長變化的關(guān)系曲線(方法同4.3條)。

4.6用輻 射測溫儀測量等溫區(qū)的表觀工作溫度T,。

5測量結(jié)果計篁

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檢測流程步驟

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