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GB 5929-1986 輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的厚度測(cè)試方法金相顯微鏡法標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

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GB 5929-1986.Thickness testing method of the metal deposits and conversion coatings for the light Industrial products Metallographic mlcroscoplc method.

GB 5929是用適當(dāng)倍率的金相顯微鏡直接觀察測(cè)定零件橫斷面的鍍層厚度??蛇m用于不同基體上各種鍍層的厚度測(cè)定,但鍍層較菏時(shí)測(cè)定精度要降低。此法能得到較好的*測(cè)量精度為土0.8微米。

GB 5929參照采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 1468- 1982《 金屬和氧化物保護(hù)層一-厚度的測(cè)定一 顯 微鏡法》。

1方法原理

GB 5929是通過(guò)使用帶有-定比例標(biāo)尺的金相顯微鏡,來(lái)直接測(cè)量用金相方法所制得的試樣橫斷面的鍍層局部厚度。

2儀器

允許使用各種類(lèi)型經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的帶有測(cè)微目鏡的金相顯微鏡。

3操作步驟

3.1試樣切取:一般可以從零件主要表面上一處或幾處切取試樣,除另有規(guī)定外,切割部位應(yīng)具有代表性,切割方式應(yīng)不影響其測(cè)量的準(zhǔn)確性。

3.2邊緣的保護(hù): 鑲嵌前,鍍層上盡可能再加鍍,且為不小于10微米的其他電鍍層,以保護(hù)待測(cè)鍍層的邊緣,保護(hù)鍍層的硬度應(yīng)接近原有鍍層硬度,顏色應(yīng)與待測(cè)鍍層有區(qū)別。例如檢查鎳層厚度時(shí),以銅作保護(hù)層,反之,檢驗(yàn)銅層厚度時(shí),則用鎳作保護(hù)層。鋅和鎘是不同的,在銅作保護(hù)層時(shí),因?yàn)樵诮g操作時(shí),會(huì)產(chǎn)生置換銅層,使待測(cè)鍍層的界線不分明。鋅可用鎘作保護(hù)層,反之,鎘可用鋅作保護(hù)層。

8.3 鑲嵌

3.3.1 試樣鑲嵌時(shí),應(yīng)使切取的橫斷面垂直于待測(cè)鍍層或氧化覆蓋層。如垂直度偏差10°,則外觀厚度較真實(shí)厚度約高1.5 %。

8.8.2試樣 可以用夾具夾持,也可用通常使用的電木粉、環(huán)氧樹(shù)脂以及低熔合金等鑲嵌,鑲嵌材料與試樣的接觸面應(yīng)密合。

3.4試樣的研磨

3.4.1被研磨的表面應(yīng)垂直于鍍層表面。

8.4.2研磨依次由粗到細(xì), 較后使用的砂紙應(yīng)不粗于04*。

3.4.3研磨操作方向應(yīng) 與鍍層界面成45°角,每更換一次砂紙,研磨方向與前一次方向成90"。

3.5試樣的拋光

研磨后的試樣應(yīng)進(jìn)行金相拋光,拋光盤(pán)上的材料為細(xì)帆布、絲絨、綢或人造纖維織物等。用金相

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檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

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