- N +

鐵素體晶粒度測(cè)試項(xiàng)目及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)一覽表

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

測(cè)試項(xiàng)目:鐵素體晶粒度測(cè)定

測(cè)試目的:晶粒度表示晶粒尺寸大小的尺度。金屬的晶粒大小對(duì)金屬的許多性能有很大的影響。晶粒度的影響,實(shí)質(zhì)是晶界面積大小的影響。晶粒越細(xì)小則晶界面積越大,對(duì)性能的影響也越大。對(duì)金屬的常溫力學(xué)性能來說,一般是晶粒越細(xì)小,則強(qiáng)度和硬度越高,同時(shí)塑性和韌性也越好。

項(xiàng)目介紹:鐵素體晶粒度的測(cè)量方法通常有比較法和截點(diǎn)法兩種,一般采用比較法,仲裁時(shí)采用截點(diǎn)法。比較法即選取有代表性的視場(chǎng)與標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖進(jìn)行比較,選取與檢驗(yàn)圖像接近的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖級(jí)別。截點(diǎn)法則是計(jì)算測(cè)量網(wǎng)格與晶界相交和相切是的截點(diǎn)數(shù),然后根據(jù)相應(yīng)的公式計(jì)算出晶粒度級(jí)別。

測(cè)試要求:

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)名稱

樣品要求

測(cè)試內(nèi)容

適用范圍

GB/T 4335-2013

低碳鋼冷軋薄板鐵素體晶粒度測(cè)定法

取樣方向:縱向

取樣位置:在鋼板寬度1/2處取樣,也可在距側(cè)邊約50mm處

尺寸:10mm*T

注:去掉冷加工變形層。

晶粒度級(jí)別數(shù)G

適用于測(cè)定含碳量小于0.2%的低碳鋼冷軋薄板的鐵素體晶粒度

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。

返回列表
上一篇:顯微組織評(píng)定測(cè)試項(xiàng)目及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)一覽表
下一篇:顯微維氏硬度檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)清單(新)