標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏件性能參數(shù)測(cè)試方法的基本原理，沒有規(guī)定這些方法在實(shí)際使用時(shí)的技術(shù)細(xì)節(jié)，測(cè)試時(shí)可按相應(yīng)的詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定進(jìn)行。本標(biāo)準(zhǔn)適用于金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏件性能參數(shù)的測(cè)試，其他氣敏件亦可參照使用。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 15653-1995

標(biāo)準(zhǔn)名稱：金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏元件測(cè)試方法

英文名稱：Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：1995-07-24

實(shí)施日期：1996-04-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子元件>>L15敏感元器件及傳感器

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.020電子元件綜合

起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所

歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局

檢測(cè)流程步驟

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