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GB/T15651.4-2017半導(dǎo)體器件分立器件第5-4部分:光電子器件半導(dǎo)體激光器

檢測報(bào)告圖片樣例

標(biāo)準(zhǔn)簡介:GB/T 15651的本部分規(guī)定了半導(dǎo)體激光器的基本額定值、特性及測試方法。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 15651.4-2017

標(biāo)準(zhǔn)名稱:半導(dǎo)體器件 分立器件 第5-4部分:光電子器件 半導(dǎo)體激光器

英文名稱:Semiconductor devices—Discrete devices—Part 5-4:Optoelectronic devices—Semiconductor lasers

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2017-05-31

實(shí)施日期:2017-12-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L51激光器件

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備

起草單位:中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所

歸口單位:全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 78)

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測流程步驟

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溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。

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