標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本部分適用于光電子器件的測(cè)試方法，用于光纖系統(tǒng)或子系統(tǒng)的除外。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 15651.3-2003

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件 測(cè)試方法

英文名稱(chēng)：Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2003-01-01

實(shí)施日期：2004-08-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L50光電子器件組合

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備

起草單位：華禹光谷股份有限公司半導(dǎo)體廠(chǎng)

歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測(cè)流程步驟

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