標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子背散射衍射分析方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于安裝了電子背散射衍射附件的電子束顯微分析儀進行物相的鑒定、晶體取向、顯微織構(gòu)以及晶界特性等方面的分析。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 19501-2004

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子背散射衍射分析方法通則

英文名稱：General guide for electron backscatter diffraction analysis

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：2004-04-30

實施日期：2004-12-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.50物理化學(xué)分析方

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 19501-2013代替

起草單位：寶鋼股份公司技術(shù)中心

歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。