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GB/T12085.16-1995光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 12085.16-1995

標(biāo)準(zhǔn)名稱:光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

英文名稱:Optics and optical instruments-Environmental test methods-Combined bounce or steady state acceleration in dry heat or cold

標(biāo)準(zhǔn)類型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):作廢

發(fā)布日期:1995-01-02

實(shí)施日期:1996-08-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):試驗(yàn)>>19.040環(huán)境試驗(yàn)

替代以下標(biāo)準(zhǔn):被GB/T 12085.16-2010代替

起草單位:中國(guó)兵器工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

歸口單位:全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位:國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局

檢測(cè)流程步驟

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