標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記，適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 12085.18-2011

標(biāo)準(zhǔn)名稱：光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗

英文名稱：Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 18:Combined damp heat and low internal pressure

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2011-06-01

實(shí)施日期：2011-11-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備

起草單位：上海理工大學(xué)、寧波光學(xué)股份有限公司、江南永新光學(xué)有限公司、南京東利來光電實(shí)業(yè)有限公司等

歸口單位：全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。