GB 9364.6-2001.Miniature fuses-Part 6: Fuse-holders for miniature cartridge fuse-links.
1范圍和目的
1.1︰GB 9364.6適用于用來(lái)保護(hù)戶內(nèi)使用的電氣裝置、電子設(shè)備和其中元件的、符合GB 9364.2小型管狀熔斷體和符合GB 9364.3超小型熔斷體用的熔斷器座。熔斷器座的類型和不同特性的例子在表1中給出。
2引用標(biāo)準(zhǔn)
下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)較新版本的可能性。
GB/T 131—1993︰機(jī)械制圖表面粗糙度符號(hào),代號(hào)及其注法(eqv 1SO 1302:1992)GB/T 321---1980優(yōu)先數(shù)和優(yōu)先數(shù)系(idt 1sO 3:1973)
GB/T 2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)﹑第1部分:總則(eqv IEC 60068-1;1988)
GB/T 2423.1--1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A;低溫試驗(yàn)方法(eqv lEC 60068-
2-1:1974)
GB/T 2423.2—1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B;高溫試驗(yàn)方法(eqv IEC 60068-
2-2:1974)
GB/T 2423.3---1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程﹑試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法(eqv IEC
60068-2-3:1984)
GB/1 2423.5-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)惇第⒉部分:試驗(yàn)方法﹐試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊(idtIEC 60068-2-27:1987)
GB/T 2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)﹒第⒉部分:試驗(yàn)方法︰試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正
弦)(idt IEC 60068-2-6:1982)
GB/T 2423.28--1982
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)T;錫焊試驗(yàn)方法(eqv IEC 60068-2-20:1979)
GB/T2423.29---1999
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第⒉部分:試驗(yàn)方法惇試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度(idt IEC 60068-2-21 :1992)
GB/T’2423.30--1999
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第⒉部分:試驗(yàn)方法﹐試驗(yàn)XA:在清洗劑中浸漬(idt IEC 60068-2-45:1993)
GB/T 2423.43—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第⒉部分:試驗(yàn)方法︰元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品沖
擊(Ea)、碰撞(Eb).振動(dòng)(Fc 和 Fb)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ga)等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中安裝要求和導(dǎo)則(idt IEC 60068-2-47:1982)
GB/T 2900.18—1992電工術(shù)語(yǔ)惇低壓電器(eqv lEC 60050-441: 1984)
GB/T 4207—1984固體絕緣材料在潮濕條件下相比漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)的測(cè)定方法
(neq IEC 60112:1979)
GB 4208—1993外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼)(eqv IEC 60529 :1989)
GB/T 4210—1984電子設(shè)備用機(jī)電元件名詞術(shù)語(yǔ)(eqv IEC60050-581;1978)

檢測(cè)流程步驟

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