跌落測試通常是主要用來模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定）。

通過跌落試驗(yàn)機(jī)可以準(zhǔn)確觀察到試驗(yàn)過程中的現(xiàn)象，能較好控制試驗(yàn)測試條件，滿足試驗(yàn)的重復(fù)度，更好的了解現(xiàn)象發(fā)生的原因，分析在跌落因素下產(chǎn)品的內(nèi)部特性和內(nèi)部現(xiàn)象，如加速度響應(yīng)等。

跌落測試國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.7-2018 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec:粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品）

GB/T 4857.1-2019  包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第1部分： 試驗(yàn)時(shí)各部位的標(biāo)示方法

GB/T 4857.23-2021  包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第23部分：垂直隨機(jī)振動試驗(yàn)方法

GB/T 4857.5-1992  包裝 運(yùn)輸包裝件 跌落試驗(yàn)方法

跌落測試產(chǎn)品范圍

1.計(jì)算機(jī)類：電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等；

2.電子通信類：手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等；

3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備；

4.其他：包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等。

對于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產(chǎn)品(如手機(jī),MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm——150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產(chǎn)品(如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。