SJ 20025-1992.Generic specification for gas snesors of metal-oxide semiconductor.
1范圍
1.1主題內(nèi)容
SJ 20025規(guī)定了*用金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏元件(以下簡稱氣敏元件或產(chǎn)品)的質(zhì)量保證、檢驗(yàn)規(guī)則、包裝、儲運(yùn)的一般要求。具體要求和特性在相應(yīng)的*用詳細(xì)規(guī)范(以下簡稱詳細(xì)規(guī)范)中規(guī)定。
1.2適用范圍
本規(guī)范適用于*事裝備用金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏元件,其它氣敏元件和民用氣敏元件亦可參照采用。
1.3分類
氣敏元件應(yīng)按下列規(guī)定分類:
A燒結(jié)型
B薄膜型
C厚膜型
D混合型
1.4產(chǎn)品的質(zhì)量標(biāo)志
凡經(jīng)鑒定機(jī)構(gòu)批準(zhǔn)并符合本規(guī)范和相應(yīng)詳細(xì)規(guī)范要求的產(chǎn)品,用字母G作為質(zhì)量標(biāo)志。
2引用文件
GB 191--73包裝儲運(yùn)圖示標(biāo)志
GB 2828- 87逐批檢查計(jì)數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連縷批的檢查)
GB 2829--87周期檢查計(jì)數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于生產(chǎn)過程穩(wěn)定性的檢查)
GB 4475- 84敏感元器件名詞術(shù)語
GB 7408- -87星期編號
CJB 360--87電子及電氣元器件試驗(yàn)方法
SJ 1155--82敏感元器件型號命名方法
SI 20026-92金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏元件測試方法
SJ 20079- -92金 屬氧化物半導(dǎo)體氣敏元件試驗(yàn)方法
3要求
3.1總要求
產(chǎn)品的要求應(yīng)符合本規(guī)范和有關(guān)詳細(xì)規(guī)范,當(dāng)本規(guī)范中采用“規(guī)定”或“按規(guī)定”一詞而未引證出處時,即指引證詳細(xì)規(guī)范。
按本規(guī)范和詳細(xì)規(guī)范生產(chǎn)產(chǎn)品時,必須先取得鑒定機(jī)構(gòu)頒發(fā)的產(chǎn)品合格證書。只有經(jīng)過檢驗(yàn)并符合相應(yīng)的詳細(xì)規(guī)范和本規(guī)范所規(guī)定的全部要求的產(chǎn)品,才能標(biāo)上G標(biāo)志。
3.2 優(yōu)先順序
若本規(guī)范要求與詳細(xì)規(guī)范或其它有關(guān)文件之間發(fā)生矛盾時,文件的權(quán)力應(yīng)按下列優(yōu)先順序排列:
a.詳細(xì)規(guī)范;
b.本規(guī)范;
c.第2章中有關(guān)文件。

檢測流程步驟

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