GB 7287.9-1987.Measuriog method for norm al total emittance of infrared beater.
2.2.7輻射測溫儀， 精度不低于+ 1 %。
注:由探測器、放大系統(tǒng)及毫伏表組成的探測系統(tǒng)也可由絕對輻射功事計代替，其精度不低于土2 %。.
2.8 參比涂料
2.8.1參比徐料應具有下列性質:
a.化學性質穩(wěn)定，在測試溫度范圍內(nèi)涂覆于各種加熱器表面均不發(fā)生化學變化;
b. 當厚度不小于0.2mm時，對1 ~ 25μm的紅外輻射不透明;
c.全法向發(fā) 射率在測試溫度范圍內(nèi)的平均溫度變化率小于0.03x 10 -2/K;
d. 全法向發(fā)射率大于0.8，光譜輻射特性近似灰體。
2.3.2所給 參比涂料在測試溫度范圍內(nèi)的全法向發(fā)射率數(shù)據(jù)，其精度應不低于土4 %。
3測量條件
a.環(huán)境溫度20士5 C。
b.相對 濕度不大于75%。
c.測量 應在防塵防震的實驗室中進行。
4測量步驟
4.1對待測 試樣施加額定工作電壓，待溫度穩(wěn)定后，用輻射測溫儀測定試樣表面溫度分布，并確定其中心部位的等溫區(qū)以及等溫區(qū)的工作溫度，然后斷電冷卻至室溫。
4.2將試樣固定在試樣支架上，調(diào)整光學系統(tǒng)達到下列要求: .
a.探測器光敏面與調(diào)制盤平面，光欄平面及試樣輻射面相互平行且共軸;
b.有效限束 光欄對探測器所張的視場角不大于5.7°;
c.由有效限束光欄所決定的試樣待測面積位于等溫區(qū)內(nèi)并小于等溫區(qū)面積。
4.3將控溫儀熱電偶焊接或粘接于待測面附近(在等溫區(qū)內(nèi))。用控溫儀將待測表面溫度控制在其工作溫度。待溫度穩(wěn)定后，測量放大系統(tǒng)輸出的試樣與調(diào)制盤差分信號電壓U,.
4.4關閉控溫儀， 試樣冷卻至室溫后，在等溫區(qū)內(nèi)均勻涂覆參比涂料，涂覆厚度為0.2mm，涂覆方法與獲取其發(fā)射率數(shù)據(jù)的原測較方法中的一致。然后開啟控溫儀(設定溫度與4.3條相同)。溫度穩(wěn)定后，測量放大系統(tǒng)輸出的參比徐料與調(diào)制盤差分信號電壓U.。
4.5移開試樣，測較放大系統(tǒng)輸出的背景與調(diào)制盤差分信號電壓Uw。
4.6用輻射測溫儀測量等溫區(qū)的表觀工作溫度Tr。
5測量結果計算

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。