SJ/T 11460.2-2014.Backlight units for liquid crystal displays-Part 2: Cold Cathode Fluorescent Lamp (CCFL) backlight units-Blank detail specification.
1范圍
SJ/T 11460.2規(guī)定了CCFL背光組件(以下簡(jiǎn)稱“組件”)的技術(shù)要求，以及質(zhì)量評(píng)定程序、檢驗(yàn)和試驗(yàn)方法、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存的空白詳細(xì)要求。
SJ/T 11460.2適用于冷陰極熒為價(jià)。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的強(qiáng)文件，儀所步日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的用文伴，其較新版本(包括所有的修改單》適用于本文件
GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: 試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫
GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: 試驗(yàn)方法試驗(yàn)B高溫
GB/T 2423.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 242314- -2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法試驗(yàn)Dbr 交變濕熱(12h+12h循環(huán))
GB/T 2423.5-1905電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 那2部分了 試驗(yàn)方法試驗(yàn)E和導(dǎo)則: 沖擊
GB/T 2423.1012008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)e; 提動(dòng)(正弦)
GB/T 242322 200電工電子廣 品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: 試驗(yàn)方法武臨溫度變化
GB/T 189105-2008液晶和固態(tài)顯示器件第5部分: 環(huán)境、耐久性和的械試驗(yàn)方法
SJ/T 11460.1-20137液晶顯示用背光組件第1部分: 總規(guī)范
SJ/T 11460.6.1-2015液晶顯示用背光組件 第6-1部分: 測(cè)試方法光學(xué)與光電參數(shù)
3術(shù)語(yǔ)和定義
SJ/T 11460.1-2013界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。
3.1
工作頻率operating frequency
驅(qū)動(dòng)燈管的高壓是一個(gè)交流信號(hào)，交流信號(hào)的頻率稱為工作頻率。在同等的工作電流、工作電壓條件下，冷陰極熒光燈管(CCFL)的發(fā)光亮度與工作頻率有關(guān)。

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。