GB/T 2481.2-2020.Bonded abrasives-Determination and designation of grain size distribution-Part 2 :Microgrits.
1范圍
GB/T 2481的本部分規(guī)定了剛玉、碳化硅微粉F230~ F2000、J240~J 8000 的術(shù)語和定義、粒度組成與粒度分級(jí)、微粉的檢測(cè)、檢測(cè)方法、標(biāo)記和標(biāo)志。
GB/T 2481.2適用于制造固結(jié)磨具和一般工業(yè)用途的微粉,精密研磨用的微粉,從固結(jié)磨具回收的微粉，以及用于拋光的松散微粉。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其較新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T 4676普通磨料取樣 方法(GB/T 4676-2018, ISQ9138 :2015,MOD)
GB/T 16458磨料磨具術(shù)語
3術(shù)語和定義
GB/T 16458界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。
3.1
微粉microgrits
用沉降法或電阻法檢驗(yàn)其粒度組成時(shí),中值粒徑ds50(或dv50)不大于64 μm的磨粒。
6檢測(cè)方法
6.1X射線重力沉降法
6.1.1 總則
X射線重力沉降技術(shù)是利用重力沉降來檢測(cè)分散在液體中的微粉的粒度組成的一種方法。通過監(jiān)測(cè)對(duì)X射線的增量信號(hào)吸收來測(cè)量液體懸浮液中固體物質(zhì)的濃度。這種測(cè)量粒度組成的方法適用于能分散在液體中的微粉或以漿體形式存在的微粉。分析的典型的顆粒尺寸范圍從大約0.1μm到大約300μm。這種方法被用來測(cè)量那些包含具有大致相同化學(xué)成分且能使X射線適當(dāng)不透明的顆粒材料。
6.1.2 檢測(cè)裝置
測(cè)試裝置由樣品泵、樣品池、樣品池的定位和移動(dòng)系統(tǒng)、X射線源(通過樣品池發(fā)射X射線到探測(cè)器)、把X射線強(qiáng)度轉(zhuǎn)換為濃度的轉(zhuǎn)換器,X-Y記錄儀和相應(yīng)的電源(結(jié)構(gòu)框圖見圖1)。

檢測(cè)流程步驟

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