GB/T 17360-2020.Microbeam analysis-Method of quantitative determination for low contents of silicon and manganese in steels using electron probe microanalyzer.
1范圍
GB/T 17360規(guī)定了用電子探針測(cè)定碳鋼和低合金鋼(鐵質(zhì)量分?jǐn)?shù)大于95%)中硅、錳含量的校準(zhǔn)曲線法。
GB/T 17360適用于電子探針波譜儀,不適用于能譜儀。帶波譜儀的掃描電鏡可以參照使用。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其較新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T 4930微束分析電子探針?lè)治?標(biāo)準(zhǔn)樣 品技術(shù)條件導(dǎo)則
GB/T 13298金 屬顯微組織檢驗(yàn)方法
GB/T 15074電子探針定量分析方法通則
GB/T 15247-2008微束分析 電子探針顯 微分析-測(cè)定 鋼中碳含量的校正曲線法
GB/T 20725波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則
GB/T 21636微束分析電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語(yǔ)
GB/T 27025檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求
3術(shù)語(yǔ)和定義
GB/T 21636界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。為了便于使用，以下重復(fù)列出了GB/T 21636中的某些術(shù)語(yǔ)和定義。
3.1
特征X射線強(qiáng)度比 intensity ratio of characteristic X-ray
在相同的激發(fā)條件(入射電子束能量、電流等)和接收條件(譜儀效率等)下,在含有某元素A的試樣上測(cè)得的A元素的特征峰強(qiáng)度I與在純A參考物質(zhì)上測(cè)得的同一特征峰的強(qiáng)度Ipure 的比值k:k=I/Ipureo
注:改寫GB/T 21636-2008,定義5.4.4。
3.2
脈沖高度分析器 pulse height analyzer
波譜儀中可以甄別有相同衍射位置而能量不同的X射線光子的檢測(cè)裝置。
注:改寫GB/T 21636-2008,定義4.6.12.
3.3
校準(zhǔn)曲線 calibration curves
分析信號(hào)與分析物濃度的函數(shù)關(guān)系的一種作圖方法,一般通過(guò)測(cè)量?jī)蓚€(gè)以上不同含量的已知參考物質(zhì)成分點(diǎn)來(lái)確定。
[GB/T 21636-2008,定義5.4.1.2]

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。