GB/T 39123-2020.Specification for cadmium-zinc telluride single crystal material for X-ray and Y-ray detector.
1范圍
GB/T 39123規(guī)定了X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料的技術(shù)要求、質(zhì)量保證規(guī)定和交貨準(zhǔn)備。
GB/T 39123適用于X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其較新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T 1555半導(dǎo)體單 晶晶向測定方法
GB/T 6618硅片厚度和總厚度變化測試方法
GB/T 14264半導(dǎo)體材料 術(shù)語
GB/T 24576高分辯 率X射線衍射測量GaAs襯底生長的AlGaAs中Al成分的試驗方法
GB/T 29505硅片平坦表面的表面粗糙度測量方法.
GB/T 32188氮化鎵單晶襯底片 X射線雙晶搖擺曲線半高寬測試方法
3術(shù)語和定義
GB/T 14264 界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。
3.1
碲鋅鎘單晶 cadmium zinc telluride single crystal
閃鋅礦結(jié)構(gòu)的固溶體合金，可以視為碲化鎘(CdTe)和碲化鋅(ZnTe)固溶而成;其分子式為Cd1-.Zn, Te(0<x<1),屬于43 m點群,F43 m空間群。
注:隨著Zn組元的含量x的變化,其點陣常數(shù)也隨之變化;主要用于室溫X射線和γ射線探測器,以及碲鎘汞薄膜的外延襯底。
3.2
組分x值 composition x
碲鋅鎘單晶中Zn組元的含量,可以視為碲化鋅(ZnTe)與碲鋅鎘(CdZnTe)的摩爾比。
3.3
微沉淀相 micro-precipitates
受溫度場分布和分凝效應(yīng)影響,碲鋅鎘晶體生長過程中可能形成鎘和碲的顆粒狀微沉淀相,其直徑不大于100μm,對晶體質(zhì)量存在較大的影響。
3.4
漏電流 leakage current
在沒有射線輻照并施加高電壓的條件下,通過碲鋅鎘晶體的穩(wěn)定電流。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。