GB/T 39865-2021.Method for measuring refractive index of uniaxial optical crystals.
1范圍
GB/T 39865規(guī)定了單軸晶光學晶體折射率測量方法的環(huán)境要求測量原理與方法、檢測儀器要求、待測量樣品準備、測量步驟、數(shù)據(jù)處理和不確定度評定。
GB/T 39865適用于單軸晶光學晶體的折射率測量,其他光學晶體的折射率測量可參照執(zhí)行。
2測量環(huán)境要求
測量環(huán)境要求如下:
a) 溫度:21℃士3℃ ,測量過程中溫度變化不大于0.5℃;
b) 相對濕度:不大于30%;
c)振動:滿足設(shè)備對環(huán)境的振動要求。
4儀器要求
4.1所采用的儀 器為折射率測量儀。
4.2折射率測量儀光源的要求:波長范圍滿足晶體折射率測量要求。
5樣品
5.1 晶體樣品需加工成直角棱鏡,樣品示意圖如圖2所示。
5.2 待測樣品頂角θ應保證入射光在出射面abef不發(fā)生全反射, 范圍宜10°~35°。
5.3直角面abcd和斜面abef分別為拋光的人射面abcd和出射面abef,尺寸為10mmX10mm~20mmX20mm,且應保證晶體直角面abcd以及斜面abef與底面adf垂直。人射面abcd和出射面abef為拋光面,面形應優(yōu)于0.2入(入=632.8nm),其他表面為毛面。
5.4待測樣 品選擇晶體光軸垂直或平行于棱鏡直角邊,光軸與人射面abcd法線夾角90°士5'。
5.5待測樣品置于測量環(huán)境中2h~5h以上。
5.6待測樣品表面不應有污漬、擦痕。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。