GB/T 40066-2021.Nanotechnologies- Thickness measurement of graphene oxide-Atomic Force Microscopy (AFM).
1范圍
GB/T 40066規(guī)定了原子力顯微鏡法( AFM)測(cè)量氧化石墨烯厚度的樣品制備、測(cè)量步驟及結(jié)果計(jì)算等。
GB/T 40066適用于片徑尺寸不小于300 nm的氧化石墨烯厚度的測(cè)量。其他二維材料厚度的AFM測(cè)量可參照使用。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其較新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T 27760利用Si(111)晶面原子臺(tái)階對(duì)原子力顯微鏡亞納米高度測(cè)量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法
GB/T 30544.13納米科技術(shù)語(yǔ)第13部分:石墨烯及相關(guān)二維材料
JJF 1351掃描探針顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范
3術(shù)語(yǔ)和定義
GB/T 27760、GB/T 30544.13和JJF 1351界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。為了便于使用,以下重復(fù)列出了GB/T30544.13中的某些術(shù)語(yǔ)和定義。
3.1
氧化石墨烯 graphene oxide;GO
對(duì)石墨進(jìn)行氧化及剝離后所得到的化學(xué)改性石墨烯,其基平面已被強(qiáng)氧化改性。
注:氧化石墨烯是具有高氧含量的單層材料，通常由碳氧原子比(與合成方法有關(guān),一般約為2.0)表征。
[GB/T 30544.13-2018,定 義3.1.2.13]

檢測(cè)流程步驟

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