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高純硅/半導(dǎo)體材料檢測

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高純硅/半導(dǎo)體材料檢測

檢測項(xiàng)目及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一覽表

序號 檢測標(biāo)準(zhǔn) 檢測對象 檢測項(xiàng)目
1 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法/GB/T 18907-2013 高純硅/半導(dǎo)體材料 選區(qū)電子衍射

檢測時間周期

一般3-10天出報(bào)告,有的項(xiàng)目1天出報(bào)告,具體根據(jù)高純硅/半導(dǎo)體材料檢測項(xiàng)目而定。

檢測報(bào)告有效期

一般高純硅/半導(dǎo)體材料檢測報(bào)告上會標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時間、出具報(bào)告的時間。檢測報(bào)告上不會標(biāo)注有效期。

檢測流程步驟

1、電話溝通、確認(rèn)需求;

2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報(bào)告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

檢測流程步驟

溫馨提示:以上關(guān)于《高純硅/半導(dǎo)體材料檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機(jī)構(gòu)遍布全國,更多檢測需求請咨詢客服。

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