- N +

手機(jī)支架檢測(cè)檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)有哪些?

參考答案:

檢測(cè)項(xiàng)目:

低溫測(cè)試,恒溫恒濕測(cè)試,耐腐蝕性,自由跌落

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):

1、GB/T2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧

2、GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A :低溫

3、GB/T 2423.7-2018 5.2、5.3 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec:粗率操作造成的沖擊(主要用于設(shè)備型樣品)

4、QB/T3826-1999 輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的耐腐蝕性試驗(yàn)方法

5、GB/T2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab恒定濕熱試驗(yàn)

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。

檢測(cè)流程步驟

返回列表
上一篇:手機(jī)支架檢測(cè)檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)有哪些?
下一篇:薄膜鍵盤檢測(cè)檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)有哪些?