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切片分析的原理及用途

參考答案:

切片分析原理:

切片分析技術是一種用于檢查電子組件、電路板或機構件內部狀況、焊接狀況的分析手段。切片是用特制液態(tài)樹脂將樣品包裹固封,然后進行研磨拋光的一種制樣方法,檢測流程包括取樣、固封、研磨、拋光、后提供形貌照片、開裂分層大小判斷或尺寸等數(shù)據,使內部結構或缺陷暴露出來。

切片分析目的:

電子元器件表面及內部缺陷檢查及SMT制程改善&驗證。

切片分析檢測標準

切片分析常規(guī)標準:IPC-TM-650 2.1.1 E05/04

切片分析檢測項目

1.PCB結構缺陷:PCB分層,孔銅斷裂等

2.PCBA焊接質量檢測:

a.BGA空焊,虛焊,孔洞,橋接,上錫面積等;

b.產品結構剖析:電容與PCB銅箔層數(shù)解析,LED結構剖析,電鍍工藝分析,材料內部結構缺陷等;

c.微小尺寸量測(一般大于1um):氣孔大小,上錫高度,銅箔厚度等。

使用儀器

:精密切割機,鑲埋機,研磨及拋光機,金相顯微鏡,電子顯微鏡等。

測試流程

:取樣鑲埋研磨拋光 觀察拍照

切片分析主要用途:

是一種觀察樣品截面組織結構情況的常用的制樣手段,

1、切片后的樣品常用立體顯微鏡或者金相測量顯微鏡觀察;

2、切片后的樣品可以用于SEM/EDS掃描電鏡與能譜觀察形貌與分析成份;

3、作完無損檢測如x-ray,SAM的樣品所發(fā)現(xiàn)的疑似異常開裂、異物嵌入等情況,可以用切片的方法來觀察驗證;

4、切片后的樣品可以與FIB聯(lián)用,做更細微的顯微切口觀察。

溫馨提示:以上內容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。

檢測流程步驟

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