資質:CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:(1)當產(chǎn)品表面存在微小的異物,而常規(guī)的成分測試方法無法準確對異物進行定性定量分析,可選擇XPS進行分析,XPS能分析≥10μm直徑的異物成分以及元素價態(tài),從而確定異物的化學態(tài),對失效機理研究提供準確的數(shù)據(jù)。
(2)當產(chǎn)品表面膜層太薄,無法使用常規(guī)測試進行厚度測量,可選擇XPS進行分析,利用XPS的深度濺射功能測試≥20nm膜厚厚度。
(3)當產(chǎn)品表面有多層薄膜,需測量各層膜厚及成分,利用D-SIMS能準確測定各層薄膜厚度及組成成分。
(4)當產(chǎn)品的表面存在同種元素多種價態(tài)的物質,常規(guī)測試方法不能區(qū)分元素各種價態(tài)所含的比例,可考慮XPS價態(tài)分析,分析出元素各種價態(tài)所含的比例。...