報(bào)告類型： 【電鏡分析檢測(cè)】電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)
報(bào)告資質(zhì)： CMA；CNAS
檢測(cè)周期： 3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外）
服務(wù)地區(qū)： 全國(guó)，實(shí)驗(yàn)室就近分配
檢測(cè)用途： 電商平臺(tái)入駐；商超賣場(chǎng)入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗(yàn)等
樣品要求： 樣品支持快遞取送/上門采樣，數(shù)量及規(guī)格等視檢測(cè)項(xiàng)而定
檢測(cè)報(bào)告圖片
檢測(cè)項(xiàng)目部分列舉如下：
儀器 | 配置及技術(shù)參數(shù) | 應(yīng)用及特色項(xiàng)目 |
掃描電鏡 SEM | 主要配置: EDS:布魯克30mm雙探測(cè)器（分辨率123eV）； EBSD：定向背散射電子探測(cè)器； 高分辨紅外CCD； 氣體二次電子探測(cè)器； 超高真空系統(tǒng)；高真空/低真空/環(huán)境真空系統(tǒng)，壓差光鑭。 拋光機(jī)；切割機(jī)；脆斷/冷鑲設(shè)備；打磨機(jī) 技術(shù)參數(shù)： 支持環(huán)境模式； 分辨率：環(huán)境掃描電子顯微鏡：3-8nm 冷場(chǎng)掃描電子顯微鏡：0.8-1.2nm | 物質(zhì)的形貌0/尺寸分析、膜層分析、EDS元素分析（定性、定量、線分布、面分布、超級(jí)面分布）、活體細(xì)胞觀察、失效分析、金相分析等。廣泛用于材料、化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等各類領(lǐng)域 |
透射電鏡 TEM | 主要配置： 單球差校正器； EDS：INCA能譜儀 離子減薄，激光超薄切片機(jī)。 技術(shù)參數(shù)： 分辨率：亞級(jí) | 物質(zhì)的形貌/尺寸觀察、電子衍射圖片，二維晶格面、明/暗場(chǎng)圖片、元素分析（定性、定量、線分布、面分布、超級(jí)面分布）。廣泛用于材料、化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等各類領(lǐng)域 |
原子力顯微鏡 AFM | 分辨率：分辨率0.1nm 臺(tái)階0.3nm-500nm | 物質(zhì)的表面形貌成像、鏡片/磁盤分析、表面粗糙度、紋理質(zhì)量 |
檢測(cè)報(bào)告有效期
一般電鏡分析檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。
檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格
需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。
檢測(cè)流程步驟
檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)
百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，檢測(cè)領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋，為您提供電鏡分析檢測(cè)服務(wù)。具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。
