報告類型： 【TOF-SIMS分析檢測】電子報告、紙質報告(中文報告、英文報告、中英文報告)
報告資質： CMA；CNAS
檢測周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務地區(qū)： 全國，實驗室就近分配
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質量改進；產(chǎn)品認證；出口通關檢驗等
樣品要求： 樣品支持快遞取送/上門采樣，數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定
概覽
檢測報告圖片
ASTM E1-2011:報告次級離子質譜法(SIMS)中濺射深度截面數(shù)據(jù)的標準實施規(guī)程
ASTM E1438-2011:用次級離子質譜法(SIMS)測量深度摻雜分布界面寬度標準指南
TOF-SIMS分析檢測用途
摻雜劑與雜質的深度剖析
薄膜的成份及雜質測定 (金屬、電介質、鍺化硅 、III-V族、II-V族)
超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析
硅材料整體分析，包含B, C, O,以及N
工藝工具(離子植入)的高精度分析
檢測報告有效期
一般TOF-SIMS分析檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間，不會標注有效期。
檢測費用價格
需要根據(jù)檢測項目、樣品數(shù)量及檢測標準而定，請聯(lián)系我們確定后報價。
檢測流程步驟
檢測機構平臺
百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質的檢測機構遍布全國，檢測領域全行業(yè)覆蓋，為您提供TOF-SIMS分析檢測服務。具體請咨詢在線客服。
