檢測(cè)報(bào)告圖片

XPS測(cè)試概述

X射線光電子能譜技術(shù)(X-ray photoelectron spectroscopy，簡(jiǎn)稱XPS)是一種表面分析方法， 使用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內(nèi)層電子或價(jià)電子受激發(fā)射出來(lái)，被光子激發(fā)出來(lái)的電子稱為光電子，可以測(cè)量光電子的能量和數(shù)量，從而獲得待測(cè)物組成。XPS主要應(yīng)用是測(cè)定電子的結(jié)合能來(lái)鑒定樣品表面的化學(xué)性質(zhì)及組成的分析，其特點(diǎn)在光電子來(lái)自表面10nm以內(nèi)，僅帶出表面的化學(xué)信息，具有分析區(qū)域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于金屬、無(wú)機(jī)材料、催化劑、聚合物、涂層材料礦石等各種材料的研究，以及腐蝕、摩擦、潤(rùn)滑、粘接、催化、包覆、氧化等過(guò)程的研究。

檢測(cè)項(xiàng)目

元素組成鑒別：給出表面元素組成，鑒別某特定元素的存在性。

化學(xué)態(tài)分析：化學(xué)位移；俄歇參數(shù)；震激峰、多重分裂等伴峰結(jié)構(gòu)；價(jià)帶譜結(jié)構(gòu)。

XPS定量分析：確定元素在樣品表面的濃度和元素相對(duì)含量。

元素沿深度方向的分布分析：利用Ar離子束濺射法進(jìn)行樣品的深度分析，得出元素沿樣品深度方向的分布。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般XPS測(cè)試報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，檢測(cè)領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋，為您提供XPS測(cè)試服務(wù)。具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。