此版本包含以下針對上一版的重大技術(shù)更改：
1.完整的編輯修訂和重組;
2.在范圍內(nèi)刪除對主電源和電池操作的限制;
3.引入了300 MHz至1 GHz頻率范圍內(nèi)的輻射干擾限值;
4.新引用了輻射發(fā)射的替代方案CDNE，該測試方法取代原有的CDN法：4.1.規(guī)定了CDNE法，僅適用于帶時(shí)鐘的EUT頻率低于或等于30 MHz。對于CDNE方法，*大尺寸的EUT為3 m x 1 m x 1 m(長 x 寬 x 高);
4.2.CISPR 16-2-1的EUT大小限制不適用。
5.刪除了插入損耗測試的要求和原來相關(guān)的附錄A;
6.引入三個(gè)基本端口：有線網(wǎng)絡(luò)端口，本地有線端口和機(jī)箱端口;6.1.對于有線網(wǎng)絡(luò)端口的傳導(dǎo)干擾限值，進(jìn)行了如下修改，可參見標(biāo)準(zhǔn) Table 2和3.
a)名稱由控制端(Control terminals)更新為有線網(wǎng)絡(luò)端口;
b)新增使用電流探頭測試的限值。
6.2.對于本地有線端口的傳導(dǎo)干擾限制值，進(jìn)行了如下修改，可參見標(biāo)準(zhǔn) Table 5 和6.
a)名稱由負(fù)載終端(load terminals)改為了本地有線端口;
b)新增使用電流探頭測試的限值。
6.3.新引入的機(jī)箱端口，可參考標(biāo)準(zhǔn)section4.5 and 5.3.4
7.修改錐形外殼金屬孔的要求;
8.對于使用GU10燈頭的自鎮(zhèn)流燈，增加了新的傳導(dǎo)干擾測量方法;
9.修正了部分燈具類產(chǎn)品測試前所需求的老化時(shí)間，并明確說明了使用LED/OLED技術(shù)的燈具類產(chǎn)品，測試前不需要進(jìn)行老化,具體可參見法規(guī)7.7.2章節(jié);
10.修改了EUT穩(wěn)定時(shí)間的規(guī)范,具體可參見法規(guī)7.8章節(jié);
11.針對環(huán)形天線輻射騷擾測試，新增加了對于尺寸大于1.6m的被測物，可以根據(jù)CISPR 14-1中的方法，在開闊場或半電波暗室中使用60cm的環(huán)形天線置于3m的距離進(jìn)行測試，該測試方法可以替換3m和4m大小的環(huán)形天線測試。
檢測流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。
