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快閃存儲器檢測

檢測報告圖片樣例

檢測范圍

檢測中心的實驗室可以提供的快閃存儲器檢測范圍包括:

NAND閃存、NOR閃存、eMMC、UFS、SD卡、CF卡、SSD、USB閃存、TF卡、XQD卡、CFexpress卡、Memory Stick、SmartMedia卡、PC卡、SLC閃存、MLC閃存、TLC閃存、QLC閃存等。

檢測項目

快閃存儲器檢測項目包括以下常見的幾種:

外觀檢查、容量檢測、讀取速度檢測、寫入速度檢測、隨機讀取檢測、隨機寫入檢測、耐久性檢測、數(shù)據(jù)完整性檢測、溫度適應(yīng)性檢測、電壓適應(yīng)性檢測、防水防塵性能檢測、抗震抗摔性能檢測等。

檢測方法

外觀檢查:檢查存儲器的外觀,包括外殼是否完整、接口是否正常等,以確保存儲器沒有物理損壞。

容量檢測:使用的存儲器檢測工具,對存儲器進行容量檢測,以驗證存儲器的容量是否與標稱容量一致。

讀取速度檢測:使用存儲器性能檢測工具,對存儲器進行讀取速度檢測,以評估存儲器的讀取性能。

寫入速度檢測:使用存儲器性能檢測工具,對存儲器進行寫入速度檢測,以評估存儲器的寫入性能。

隨機讀取檢測:通過連續(xù)隨機讀取存儲器中的數(shù)據(jù),以評估存儲器在處理隨機讀取操作時的性能表現(xiàn)。

隨機寫入檢測:通過連續(xù)隨機寫入數(shù)據(jù)到存儲器中,以評估存儲器在處理隨機寫入操作時的性能表現(xiàn)。

耐久性檢測:通過反復(fù)進行大容量數(shù)據(jù)讀寫操作,以評估存儲器的耐久性和長期使用穩(wěn)定性。

數(shù)據(jù)完整性檢測:對存儲器中的數(shù)據(jù)進行讀取和校驗,以確保存儲器中的數(shù)據(jù)完整無誤。

溫度適應(yīng)性檢測:將存儲器暴露在不同溫度環(huán)境下,觀察存儲器的性能和穩(wěn)定性。

電壓適應(yīng)性檢測:在不同電壓條件下對存儲器進行檢測,以驗證存儲器對電壓變化的適應(yīng)性。

防水防塵性能檢測:對存儲器進行防水和防塵性能檢測,以確保存儲器在惡劣環(huán)境下的可靠性。

抗震抗摔性能檢測:對存儲器進行抗震和抗摔性能檢測,以驗證存儲器在意外撞擊或震動中的可靠性。

檢測周期

一般7-10個工作日出具報告,可加急。

參考標準

GB/T 35003-2018非易失性存儲器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗方法

GB/T 35008-2018串行NOR型快閃存儲器接口規(guī)范

GB/T 35009-2018串行NAND型快閃存儲器接口規(guī)范

GB/T 36477-2018半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲器檢測方法

GB/T 42974-2023半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲器(FLASH)

HJ 2510-2012環(huán)境標志產(chǎn)品技術(shù)要求 錄音筆

SJ/T 11585-2016串行存儲器接口要求

SJ/T 11701-2018通用NAND型快閃存儲器接口

SJ/T 11790-2021固態(tài)盤能耗檢測方法

檢測流程步驟

檢測流程步驟

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