檢測(cè)范圍：

光電二極管等。

檢測(cè)項(xiàng)目：

正向電壓、暗電流、反向擊穿電壓、結(jié)電容、陣列串?dāng)_、反向擊穿電壓溫度系數(shù)、響應(yīng)度、內(nèi)響應(yīng)度非均勻性、間響應(yīng)度非均勻性、發(fā)射極擊穿電壓、飽和壓降、上升和下降時(shí)間、電流等。

依據(jù)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

YD/T 835-1996 雪崩光電二極管檢測(cè)方法

SJ/T 2214-2015 半導(dǎo)體光電二極管和光電晶體管檢測(cè)方法

GB/T 23729-2009 閃爍探測(cè)器用光電二極管.試驗(yàn)方法

SJ/T 2216-2015 硅光電二極管技術(shù)規(guī)范

SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光電二極管檢測(cè)方法

GB/T 21194-2007 通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求

YD/T 2342-2011 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法

GB/T 15651-1995 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第5部分:光電子器件

JB/T 5186-1991 照相機(jī)用硅光電二極管

SJ 2354.3-1983 PIN、雪崩光電二極管暗電流的檢測(cè)方法

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。